[发明专利]一种口径天线平面近场测量方法、系统、电子设备及介质

权利要求书

1.一种口径天线平面近场测量方法，其特征在于，包括：

获取待测天线在口径面上的平面波谱；

利用谱域滤波函数对所述平面波谱进行滤波处理，得到待测天线的原始可信谱；

利用松弛因子和傅里叶算法对所述原始可信谱进行修正处理，得到修正可信谱；将修正可信谱作为待测天线的远场方向图。

2.根据权利要求1所述的一种口径天线平面近场测量方法，其特征在于，所述利用松弛因子和傅里叶变换算法对所述原始可信谱进行修正处理，得到修正可信谱，包括：

确定所述原始可信谱为第0次迭代时的可信谱；

令迭代次数n=1；

对第n-1次迭代得到的可信谱进行傅里叶逆变换，得到第n次迭代时待测天线口径面上的电场；

将第n次迭代时待测天线口径外的电场进行置零处理，得到第n次迭代时待测天线的口径内电场；

对第n次迭代时待测天线的口径内电场进行傅里叶变换，得到第n次迭代时的口径内平面波谱；

利用松弛因子对第n次迭代时的口径内平面波谱进行加权处理，得到第n次迭代时的口径内加权平面波谱；

将第n次迭代时的口径内加权平面波谱叠加到第n-1次迭代时的可信谱上，得到第n次迭代时的可信谱；

判断所述迭代次数n是否达到迭代次数阈值，得到判断结果；

若所述判断结果为否，则令迭代次数n的数值增加1并返回步骤“对第n-1次迭代得到的可信谱进行傅里叶逆变换，得到第n次迭代时待测天线口径面上的电场”；

若所述判断结果为是，则确定第n次迭代时的可信谱为待测天线的远场方向图。

3.根据权利要求1所述的一种口径天线平面近场测量方法，其特征在于，谱域滤波函数为：

；

式中，B(k_x,k_y)为谱域滤波函数；k_x为波数k在x方向上的分量；k_y为波数k在y方向上的分量；θ_x为待测天线在x方向的可信角；θ_y为待测天线在y方向的可信角。

4.根据权利要求3所述的一种口径天线平面近场测量方法，其特征在于，所述口径内平面波谱为：

；

式中，A_nx(k_x,k_y)为第n次迭代时口径内平面波谱在x方向上的分量；A_ny(k_x,k_y)为第n次迭代时口径内平面波谱在y方向上的分量；为第n次迭代时待测天线的口径内电场在x方向上的分量；为第n次迭代时待测天线的口径内电场在y方向上的分量。