[实用新型]射频S参数测量装置有效

专利信息
申请号: 202223436979.6 申请日: 2022-12-21
公开(公告)号: CN219162300U 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 王建今;蔡义承;钟侑福;田庆诚 申请(专利权)人: 矽格股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京睿派知识产权代理有限公司 11597 代理人: 刘锋
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射频 参数 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种射频S参数测量装置,耦接一待测物,其特征在于,所述射频S参数测量装置包括:

一向量网络分析仪,用以产生一低频向量信号;

一升降频装置,耦接所述向量网络分析仪,其中所述升降频装置用以接收所述低频向量信号与高频信号,并利用所述低频向量信号与所述高频信号产生一高频向量信号;以及

一信道切换装置,具有一第一端口与一第二端口,所述待测物耦接于所述第一端口与所述第二端口之间,所述信道切换装置耦接所述升降频装置,其中所述信道切换装置用以传送所述高频向量信号至所述待测物,所述待测物反射所述高频向量信号以形成高频反射向量信号,所述高频向量信号透射所述待测物以形成高频透射向量信号,所述升降频装置用以接收所述高频向量信号、所述高频反射向量信号与所述高频透射向量信号,以利用所述高频向量信号、所述高频反射向量信号与所述高频透射向量信号产生所述低频向量信号、低频反射向量信号与低频透射向量信号,所述向量网络分析仪用以接收并分析所述低频向量信号、所述低频反射向量信号与所述低频透射向量信号,以得到S参数测量值。

2.如权利要求1所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述射频S参数测量装置还包括:

一高频信号产生器,用以产生所述高频信号;以及

一信号分配器,其耦接所述高频信号产生器与所述升降频装置,其中所述信号分配器用以接收并分配所述高频信号至所述升降频装置。

3.如权利要求2所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述升降频装置包括:

一第一混波器与一第二混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中在所述第一混波器接收所述低频向量信号与所述高频信号,并利用所述低频向量信号与所述高频信号产生所述高频向量信号时,所述第二混波器接收所述高频信号与所述高频透射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频透射向量信号产生所述低频透射向量信号,在所述第一混波器接收所述高频信号与所述高频透射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频透射向量信号产生所述低频透射向量信号时,所述第二混波器接收所述低频向量信号与所述高频信号,并产生所述高频向量信号;

一第三混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中所述第三混波器用以接收所述高频信号与所述高频向量信号,并利用所述高频信号与所述高频向量信号产生所述低频向量信号;以及

一第四混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中所述第四混波器用以接收所述高频信号与所述高频反射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频反射向量信号产生所述低频反射向量信号。

4.如权利要求3所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述射频S参数测量装置还包括:

一第一带通滤波器,耦接于所述第一混波器与所述向量网络分析仪之间,其中所述第一带通滤波器用以滤除所述第一混波器产生的杂散信号;

一第二带通滤波器,耦接于所述第一混波器与所述信道切换装置之间,其中所述第二带通滤波器用以滤除所述第一混波器产生的杂散信号;

一第三带通滤波器,耦接于所述向量网络分析仪与所述第二混波器之间,其中所述第三带通滤波器用以滤除所述第二混波器产生的杂散信号;

一第四带通滤波器,耦接于所述第二混波器与所述信道切换装置之间,其中所述第四带通滤波器用以滤除所述第二混波器产生的杂散信号;

一第五带通滤波器,耦接于所述第三混波器与所述向量网络分析仪之间,其中所述第五带通滤波器用以滤除所述第三混波器产生的杂散信号;以及

一第六带通滤波器,耦接于所述第四混波器与所述向量网络分析仪之间,其中所述第六带通滤波器用以滤除所述第四混波器产生的杂散信号。

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