[实用新型]一种集成电路封装装置有效
| 申请号: | 202222789348.6 | 申请日: | 2022-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN218548383U | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
| 发明(设计)人: | 周香军;黄芬;周香艳 | 申请(专利权)人: | 深圳市中昇微半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68;H01L21/687 |
| 代理公司: | 深圳汇策知识产权代理事务所(普通合伙) 44487 | 代理人: | 梁超 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 封装 装置 | ||
1.一种集成电路封装装置,包括封装台(1),所述封装台(1)内轴承连接有双向螺纹杆(2),且双向螺纹杆(2)左端贯穿封装台(1)固定有手轮(3),并且手轮(3)设置在封装台(1)外侧;
其特征在于,还包括:
托板(4),设置在所述封装台(1)上端面,且托板(4)内固定有磁石条(5),并且托板(4)上放置有基板(6),同时托板(4)上方设置有可移动的活动块(7),所述活动块(7)上连接有活动杆(9),且活动杆(9)上连接有定位螺栓(10)用于定位作用;
活动架(11),通过轴承连接在所述活动杆(9)上,且活动架(11)设置在基板(6)上方,并且基板(6)上放置有电路板(13)用于封装作用,所述活动架(11)上端面还固定有弧形结构的拉环(12)方便对活动架(11)进行拉动。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述托板(4)关于封装台(1)的中心线为左右对称分布,且托板(4)为“L”型结构,并且托板(4)通过螺纹与双向螺纹杆(2)相互连接实现调节作用。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述托板(4)上还设置有活块(401)和橡胶凸圆(402);
活块(401),前后对称在所述托板(4)下端面,且活块(401)嵌套在封装台(1)上开槽内可进行左右滑动;
橡胶凸圆(402),等间距固定在所述托板(4)上端面,且橡胶凸圆(402)具有弹性。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述活动块(7)上还设置有连接杆(701)和第一磁石(702);
连接杆(701),固定在所述活动块(7)下端面,且连接杆(701)嵌套在托板(4)内可进行前后滑动,并且连接杆(701)贯穿托板(4)上端面可进行上下滑动;
第一磁石(702),固定在所述连接杆(701)下端面,且第一磁石(702)与磁石条(5)之间构成磁吸固定结构。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述活动杆(9)下端面还固定有弹簧(8)的一端,且弹簧(8)下端固定在活动块(7)内,并且活动杆(9)通过弹簧(8)与活动块(7)之间构成弹性机构。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述活动杆(9)与活动块(7)之间为滑动连接,且活动杆(9)与活动块(7)之间为一一对应关系。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述活动杆(9)通过螺纹与定位螺栓(10)相互连接吗,且定位螺栓(10)下端与活动架(11)接触实现限位作用,并且活动架(11)与活动杆(9)之间为转动机构。
8.根据权利要求1所述的一种集成电路封装装置,其特征在于:所述活动架(11)上还设置有压板(1101)和防护垫(1102);
压板(1101),固定在所述活动架(11)下端面;
防护垫(1102),固定在所述压板(1101)下端面,且防护垫(1102)与电路板(13)接触实现防护作用。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中昇微半导体有限公司,未经深圳市中昇微半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202222789348.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种除磁废金属吸附装置
- 下一篇:内置强制润滑泵的减速器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





