[实用新型]一种过零检测电路

权利要求书

1.一种过零检测电路，其特征在于，包括辅热设备的AC交流电（1），所述AC交流电（1）的L相与电阻R28A（2）的一端连接，所述电阻R28A（2）的另一端与电容C17A（4）的一端、整流桥D6A（5）的1脚连接，所述AC交流电（1）的N相与电阻R31A（3）的一端连接，所述电阻R31A（3）的另一端与所述电容C17A（4）的另一端、所述整流桥D6A（5）的2脚连接；

所述整流桥D6A（5）的3脚分别与瞬态抑制二极管D8A（6）的一端、稳压管D9A（7）的负极、开关二极管D7A（8）的正极及电阻R27A（9）的一端连接，所述电阻R27A（9）的另一端分别与三极管Q5A（10）的基极、电阻R30A（11）的一端连接，所述开关二极管D7A（8）的负极分别与所述三极管Q5A（10）的发射极、电容C16A（12）的一端连接，所述三极管Q5A（10）的集电极与电阻R25A（13）的一端连接，所述电阻R25A（13）的另一端与光耦U7A（14）的1脚连接；所述整流桥D6A（5）的4脚分别与所述瞬态抑制二极管D8A（6）的另一端、所述稳压管D9A（7）的正极、所述电容C16A（12）的另一端、所述电阻R30A（11）的另一端、所述光耦U7A（14）的2脚连接；

所述光耦U7A（14）的4脚与电阻R26A（15）的一端、开关二极管D5A（16）的正极连接，所述开关二极管D5A（16）的负极分别与电阻R29A（17）的一端、MCU的过零检测I/O口连接。

2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述光耦U7A（14）的3脚与地连接。

3.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述电阻R26A（15）的另一端与5V电源连接。

4.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于，所述电阻R29A（17）的另一端与地连接。