[发明专利]一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪在审
| 申请号： | 202211742227.4 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN115931929A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 申锦;王军政;邢立娜;朱宁 | 申请（专利权）人： | 安徽创谱仪器科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/085 | 分类号： | G01N23/085 |
| 代理公司： | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 王冲 |
| 地址： | 230031 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 johansson xafs 谱仪 | ||
1.一种基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，包括光源(1)、待测样品(2)、狭缝(3)、探测器(4)和Johannsson弯晶(5)；
所述Johansson弯晶(5)的衍射面的半径为R，且Johansson弯晶(5)的衍射面与半径为R的罗兰圆(6)弯曲重合；
光源(1)的出射点A位于罗兰圆(6)的圆周上；出射光线被Johansson弯晶(5)反射后在罗兰圆(6)的平面焦点B处聚焦；
在平面焦点B处放置待测样品(2)，待测样品(2)的后方设置有狭缝(3)；被Johansson弯晶(5)反射后在平面焦点B处聚焦；平面焦点B处聚焦的光束穿过待测样品(2)后通过位于其后侧的狭缝(3)，经过狭缝(3)后的光束由探测器(4)探测得到光束的光谱。
2.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述光源(1)发射的出射光线为X射线。
3.根据权利要求2所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述X射线为复色X射线。
4.根据权利要求3所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述Johansson弯晶(5)将复色X射线衍射成单色X射线。
5.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述光源(1)发射的出射光线入射到Johansson弯晶(5)的任何点的晶面都满足Bragg条件。
6.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述探测器(4)为SDD探测器。
7.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述出射光线经过Johansson弯晶(5)的衍射面时均满足Bragg衍射条件。
8.根据权利要求1所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述所述光源(1)为实验室X射线光源。
9.根据权利要求8所述的基于Johansson弯晶的XAFS谱仪，其特征在于，所述所述光源(1)为X射线管。
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