[发明专利]防眩光玻璃基板在审
| 申请号: | 202211708752.4 | 申请日: | 2018-03-23 |
| 公开(公告)号: | CN116395972A | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
| 发明(设计)人: | 三代均;小山启子;玉田稔 | 申请(专利权)人: | AGC株式会社 |
| 主分类号: | C03C15/00 | 分类号: | C03C15/00;B32B17/10;B32B27/28;B32B3/30;B32B7/12;B32B33/00 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 杨青;安翔 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 眩光 玻璃 | ||
本发明涉及一种防眩光玻璃基板,其为具有第一主面和与所述第一主面相反的第二主面的玻璃基板,在所述第一主面的表面上实施了防眩光处理并且还层叠有作为防污膜的含氟有机硅化合物覆膜,其中,在所述第一主面的一部分具有未实施所述防眩光处理的非防眩光处理部分,所述非防眩光处理部分的表面粗糙度Ra小于10nm,实施了所述防眩光处理的防眩光处理部分与非防眩光处理部分的玻璃基板的板厚方向上的高度之差为10μm以上且200μm以下。
本申请是申请日为2018年3月23日、申请号为201810245007.8的中国专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及赋予了防眩光性的玻璃基板、即防眩光玻璃基板。
背景技术
近年来,例如在LCD(液晶显示器(Liquid Crystal Display))装置等显示装置的显示面侧,为了保护该显示装置而配置由透明基体构成的盖板(カバー)。从外观上的观点出发,经常使用玻璃基板作为该透明基体。但是,在显示装置上设置有这样的玻璃基板的情况下,在隔着玻璃基板观察显示装置的显示面时,经常存在发生放置于周边的物体的映射(映り込み)的情况。当在玻璃基板中发生这样的映射时,显示面的观察者不仅难以观察显示面,而且感受到不愉快的印象。
因此,为了抑制这样的映射,例如尝试在玻璃基板的表面上实施形成凹凸形状的防眩光处理。
另外,对于这样的显示装置而言,人的手指等触碰形成盖板的玻璃基板表面的机会较多,在人的手指等触碰时,油脂等容易附着于玻璃基板表面。而且,在附着有油脂等时,对可视性产生影响,因此使用在实施了防眩光处理的玻璃基板的表面上实施了防污处理的玻璃基板。
对于防眩光处理而言,例如记载了对玻璃基板表面进行蚀刻(例如,参见专利文献1)、在玻璃基板表面上形成具有凹凸形状的膜(例如,参见专利文献2)等方法。
在LCD(液晶显示器)装置等普及的过程中,不断要求新的功能。例如,作为应对汽车、电车等的驾驶员的瞌睡的对策,有时将利用照相机监视驾驶员的状态的系统等搭载在仪表板上、尤其是收容设置在驾驶员前的仪表等的仪表组(クラスター)等上,在此情况下,需要在作为盖板的玻璃基板中处于照相机视野的部分不实施防眩光处理。
在这样的具有实施了防眩光处理的区域和未实施该防眩光处理的区域的玻璃基板上实施防污处理的情况下,存在防污剂聚集在这些区域的边界从而得不到充分的效果的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2014/119453号
专利文献2:美国专利第8003194号说明书
发明内容
发明所要解决的问题
本发明的目的在于提供一种防眩光玻璃基板,其在实施了防眩光处理的表面的一部分具有未实施防眩光处理的非防眩光区域,并且防污效果优良。
用于解决问题的手段
本发明的一个实施方式的防眩光玻璃基板为具有第一主面和与所述第一主面相反的第二主面的玻璃基板,在所述第一主面的表面上实施了防眩光处理并且还层叠有作为防污膜的含氟有机硅化合物覆膜,其特征在于,在所述第一主面的一部分具有未实施所述防眩光处理的非防眩光处理部分,所述非防眩光处理部分的表面粗糙度Ra小于10nm,实施了所述防眩光处理的防眩光处理部分与非防眩光处理部分的玻璃基板的板厚方向上的高度之差为10μm以上且200μm以下。
根据本发明,能够提供不会聚集防污剂、防污性优良、并且具有非防眩光处理部分的防眩光玻璃基板。
附图说明
图1是示意性地示出本发明的一个实施方式的防眩光玻璃基板的立体图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AGC株式会社,未经AGC株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211708752.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:声音设备和车辆设备
- 下一篇:具有电源毛刺检测和电源毛刺自测试功能的芯片





