[发明专利]一种超细WC的晶粒间接评价方法在审
| 申请号: | 202211456985.X | 申请日: | 2022-11-21 |
| 公开(公告)号: | CN115728195A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
| 发明(设计)人: | 邹丹;谢元彦;胡世文 | 申请(专利权)人: | 湖南博云东方粉末冶金有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;C22C1/051;C22C29/08 |
| 代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 符继超 |
| 地址: | 410205 湖南省长沙市岳麓*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 wc 晶粒 间接 评价 方法 | ||
本发明公开了一种超细WC的晶粒间接评价方法,具体包括以下步骤:(1)配制原材料:将WC、钴粉和晶粒长大抑制剂,配制三个及以上不同碳含量的WC‑Co混合料,备用;(2)制备:将所述混合料经球磨、干燥、压制、脱蜡及烧结后,得到硬质合金试样;(3)检测:测定所述硬质合金试样钴磁Com与矫顽磁力Hc,通过绘制Hc‑Com图,导出钴磁Com与矫顽磁力Hc的回归方程,再计算出WC的Hcp值;本发明考虑了含抑制剂的超细/纳米硬质合金其钴磁对矫顽磁力的影响,利用两者之间的关系特性,构建了新的Hcp试验评测WC的方法,更加客观准确的评测出WC的Hcp值,对指导超细/纳米硬质合金生产有着重大意义。
技术领域
本发明涉及硬质合金技术领域,更具体的说是涉及一种超细WC的晶粒间接评价方法。
背景技术
在硬质合金生产过程中,为了控制硬质合金晶粒度需要对原料WC粉末进行评价,传统的粉末粒度评价方法,如费氏法、BET法等,只能表征粉末的颗粒尺寸;但是一般情况下,WC粉末颗粒是由多个晶粒组成,其晶粒尺寸才是影响硬质合金晶粒尺寸的关键因素,而WC的晶粒非常难以检测;Hcp方法是一种间接评价WC粉末晶粒大小的常用技术,评测结果的准确与否,会直接影响到硬质合金的晶粒度,进而影响硬质合金产品性能。
目前,现有的超细WC的Hcp试验通常做法是,采用相同的钴含量,配制三个及以上不同碳含量的混合料样品,压制烧结后测定钴磁与矫顽磁力,然后用数据绘制坐标图,导出钴磁与矫顽磁力的线性回归方程,再计算出Hcp值,钴磁与矫顽磁力呈线性关系,钴磁高矫顽磁力低,反之钴磁低矫顽磁力高。但在生产超细/纳米硬质合金中需要加入抑制剂,常用的抑制剂是碳化铬和碳化钒,我们发现抑制剂的加入使得Hc和Com两者的关系为抛物线关系,而非线性关系,所以,传统的Hcp评价方式评测出WC的Hcp值不适合于指导超细/纳米硬质合金的生产。
因此,如何提供一种更加客观准确的超细WC的晶粒间接评价方法是本领域技术人员亟需解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种超细WC的晶粒间接评价方法,本发明考虑了含抑制剂的超细/纳米硬质合金其钴磁对矫顽磁力的影响,利用两者之间的关系特性,构建了新的Hcp试验评测WC的方法,更加客观准确的评测出WC的Hcp值,对指导超细/纳米硬质合金生产有着重大意义。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种超细WC的晶粒间接评价方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
(1)配制原材料:将WC、钴粉和晶粒长大抑制剂,配制三个及以上不同碳含量的WC-Co混合料,备用;
(2)制备:将所述混合料经球磨、干燥、压制、脱蜡及烧结后,得到硬质合金试样;
(3)检测:测定所述硬质合金试样钴磁Com与矫顽磁力Hc,通过绘制Hc-Com图,导出钴磁Com与矫顽磁力Hc的回归方程,再计算出WC的Hcp值。
本发明考虑了含抑制剂的超细/纳米硬质合金其钴磁对矫顽磁力的影响,基于含抑制剂的超细/纳米硬质合金其钴磁与矫顽磁力呈抛物线的关系的特性原理上,在此基础上构建评测方法,排除钴磁对矫顽磁力的影响,进而得到更加准确的WC的Hcp值。
优选地,步骤(1)中所述混合料中Co的含量为6-10wt%。
优选地,步骤(1)中所述晶粒长大抑制剂为Cr、V、Ta、Nb、Ti、Mo及其碳化物或者复式碳化物中的任意一种,含量为0.01-10wt%。
优选地,步骤(1)中所述混合料碳含量的范围是5.66-6.21wt%。
优选地,步骤(2)中所述球磨的介质为酒精、丙酮、己烷和汽油中的任意一种;球磨时间范围为1-120h。
优选地,介质为酒精,球磨时间为10-24h。
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