[发明专利]一种集成电路快捷测试系统

权利要求书

1.一种集成电路快捷测试系统，其特征在于，包括：

功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；

直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；

储存装置，用于加载信号与地址选择信号，将信号分别储存为第一群组、第二群组和第三群组；

第一校准单元，设置在多个驱动器和比较器之间；

第二校准单元，所述第二校准单元包括根据第二组连接关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述第一群组、所述第二群组和所述第三群组以并列传送逻辑电路并执行耦接，以此根据选择信号，依次输出所述第一群组、所述第二群组和所述第三群组的信号后选择第一测试结果。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，还包括利用机器人系统将所述第一校准单元和所述第二校准单元放置在所述多个驱动器和比较器之间，以及从所述多个驱动器和比较器之间移除所述第一校准单元和所述第二校准单元。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述直流测试模块包括保护子模块和保护电阻，所述保护电阻分别与所述第一校准单元和所述第二校准单元。