[发明专利]一种二极管不良去除装置

说明书

本发明涉及一种二极管不良去除装置，包括底板、输送单元、检测单元以及导引单元，所述底板的前后两端设置有输送单元，所述底板上安装有检测单元且检测单元位于两个所述输送单元之间，位于所述底板后侧的所述输送单元上设置有导引单元。本发明可以通过检测单元实现对二极管的检测功能，并且分类收集不良品与合格品，提高二极管的检测效率。

技术领域

本申请涉及二极管检测领域，特别是涉及一种二极管不良去除装置。

背景技术

二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件，二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛。特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能。二极管在使用时不易分辨其好坏，大大降低了工作效率，所以需要对不良的二极管进行去除处理。

在现有的二极管不良去除装置中，如公告号为CN 204964695中国专利，公开了一种二极管检测设备，具体的，当检测头刮过的二极管为正向设置时，二极管的负极接触端子接触，二极管的正极与正极接触端子接触，由于二极管的单向导电性能，电路中不存在电流，故蜂鸣器不会鸣叫，当检测头刮过反向设置的二极管时，二极管的负极与正极接触端子接触，二极管的正极与负极接触端子接触，因为二极管的单向导电性能，电路中有电流流过，此时蜂鸣器发出声音，提醒使用者更换二极管。

上述现有技术也能够实现对二极管不良的检测功能，但一方面，上述现有技术需要靠人工来对二极管进行检测，加大了检测成本，另一方面，上述现有技术在检测时需要人工对检测结果做出判断，并作出相应动作，忽略了因人为因素而对检测结果判断错误造成一系列的损失，基于此，在现有的二极管不良去除装置的基础之上还有改进空间。

发明内容

为了能够实现对不良的二极管进行处理，本申请提供一种二极管不良去除装置。

本申请提供的一种二极管不良去除装置采用如下的技术方案：

一种二极管不良去除装置，包括底板、输送单元、检测单元以及导引单元，所述底板的前后两端设置有输送单元，所述底板上安装有检测单元且检测单元位于两个所述输送单元之间，位于所述底板后侧的所述输送单元上设置有导引单元。

所述检测单元包括检测机架、旋转轴、旋转电机、循环框架、吸附调节支链、控制推送支链以及检测支链，所述检测机架安装在底板上，所述旋转轴通过轴承设置在所述检测机架的内壁之间，所述旋转电机通过电机座安装在所述检测机架的外壁上，所述旋转电机的输出轴通过联轴器与所述旋转轴相连，所述旋转轴上设置有循环框架，所述循环框架上沿其周向均匀设置有吸附调节支链，所述控制推送支链设置在所述检测机架右端的内壁上，检测机架上端对称安装有检测支链，检测支链呈倾斜布置。

通过采用上述技术方案，二极管通过输送单元运动到检测机架上，旋转电机带动旋转轴转动，进而带动循环机架转动，通过吸附调节支链以及检测支链相互配合，实现检测单元的检测功能。

所述吸附调节支链包括承接块、支撑管、顶杆、齿轮、连接支架、弧形齿条板、伸缩弹簧、配重块、吸附组件和环形架，所述支撑管通过轴承设置在所述循环框架上，所述支撑管上设置有所述承接块，所述承接块上开设有推料孔和吸附孔，旋转轴中部安装有环形架，支撑管内侧通过轴承与环形架相连接，所述支撑管内通过滑动配合方式设置有顶杆，所述顶杆远离所述承接块的一端上设置有配重块，所述配重块与所述支撑管之间设置有伸缩弹簧，所述循环框架内设置有吸附组件，吸附组件通过轴承与环形架一侧相连接，所述支撑管的外壁上设置有齿轮，所述检测机架右端设置有连接支架，所述连接支架上设置有弧形齿条板。

通过采用上述技术方案，二极管在旋转的过程中始终被吸附在承接块内的凹槽中，在当二极管运动到循环框架最上端时，吸附调节支链中的齿轮与弧形齿条板相啮合，使支撑杆带动承接块旋转180°，当二极管运动到循环框架水平中轴线处时，伸缩弹簧与顶杆作用将二极管顶出。