[发明专利]一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法有效

专利信息
申请号: 202211143526.6 申请日: 2022-09-20
公开(公告)号: CN115239792B 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 占栋;周蕾;熊昊睿;王云龙;王克文;司文斌 申请(专利权)人: 成都唐源电气股份有限公司
主分类号: G06T7/62 分类号: G06T7/62;G01B21/20;E01B31/17
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610046 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 轨道 打磨 代表 生成 方法
【说明书】:

发明公开了一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法,涉及数据处理和数据融合的技术领域,具体包括如下步骤:获取有效廓形步骤,获取与标准廓形对齐后的测量廓形,通过等价于梯形或等价于三角形计算每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域的面积,筛选符合预设条件的所有廓形得到有效廓形集合;生成代表廓形步骤,从所述有效廓形集合中选取参考廓形,计算所述参考廓形中每个点到有效廓形集合中所有廓形的投影点的平均坐标,从而得到代表廓形;本发明,通过上述步骤实现能有效剔除测量廓形本身的干扰信息,生成更具代表性的代表廓形,代表廓形的有效性更高,有助于提高轨道的打磨速度,减少人工工作量,同时避免主观因素影响。

技术领域

本发明涉及数据处理和数据融合的技术领域,具体涉及一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法。

背景技术

轨道打磨能消除轨道表面的波磨、侧磨和肥边等表面缺陷,有效的预防和减缓轨道病害的发生,改善轨道平顺性。

目前的轨道打磨工作常采用的手段是在打磨现场技术人员根据经验对历史打磨模式进行选择或者是人工测量定制打磨模式,其中打磨所使用的代表廓形通常是使用打磨区段的第一个测量廓形或打磨区段中所有满足一定要求测量廓形中占比最多的廓形。但这种代表廓形的选取具有随机性,易受测量廓形干扰的影响导致选取的代表廓形不理想或者是无效,从而影响打磨效率低,易造成打磨量过大或不足;同时过多的依赖于人工经验,存在较大的人为主观因素影响,且技术人员的工作量较大,打磨效率较低。因此本发明提出一种基于数据处理和数据融合技术自动生成用于轨道打磨的代表廓形的方法。

发明内容

本发明的目的在于:针对目前轨道打磨工作方法存在代表廓形易受干扰、所选取的代表廓形不理想或者无效的情况,易造成打磨量过大或不足,存在较大的人为主观因素影响,且技术人员的工作量较大的问题,提供了一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法,用于减少人为主观因素影响,减少技术人员的工作量,提高打磨效率及打磨精度,以解决上述问题。

本发明的技术方案如下:

一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法,包括如下步骤:

获取与标准廓形对齐后的测量廓形,并计算每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域的面积;

根据预设条件,判断测量廓形是否为有效廓形;

筛选符合预设条件的所有廓形得到有效廓形集合;

从所述有效廓形集合选取点数最少的廓形作为参考廓形;

通过计算所述参考廓形中每个点到有效廓形集合中所有廓形的最短投影点的平均坐标,得到代表廓形。

进一步地,所述测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域,至少包括以下情形中的任意一种:

当测量廓形连续两个相邻点在标准廓形上方时,所述测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域对应的面积为正面积;

当测量廓形连续两个相邻点在标准廓形下方时,所述测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域对应的面积为负面积;

当测量廓形连续两个相邻点在标准廓形的上下分布时,所述测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域对应的面积为正负面积。

进一步地,

当测量廓形连续两个相邻点在标准廓形上方分布或下方分布时,通过等价于梯形进行面积计算;

当测量廓形连续两个相邻点在标准廓形上下分布时,通过等价于三角形进行面积计算;

遍历每个测量廓形的每一个点通过等价于梯形和/或等价于三角形计算每个测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域的面积,得到测量廓形与标准廓形之间的正向面积s1、负向面积s2、正负面积s三个数值;

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