[发明专利]一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法

权利要求书

1.一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取有效廓形步骤，获取与标准廓形对齐后的测量廓形，通过等价于梯形和/或等价于三角形计算每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域的面积，筛选符合预设条件的所有廓形得到有效廓形集合，其中，所述预设条件为四分位数大于四分之一位数，小于四分之三位数；通过四分位数计算方法，对升序排序后的面积数据进行有效廓形的判别；

生成代表廓形步骤，从所述有效廓形集合中选取参考廓形，所述参考廓形为所述有效廓形集合中点数最少的廓形，计算所述参考廓形中每个点到所述有效廓形集合中所有廓形的投影点的平均坐标，以得到投影点平均坐标集合，即为代表廓形点集，从而生成代表廓形。

2.根据权利要求1所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，所述每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域的面积，具体为：

当测量廓形上连续两个相邻点在标准廓形上方时，所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域对应的面积为正面积；

当测量廓形上连续两个相邻点在标准廓形下方时，所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域对应的面积为负面积；

当测量廓形上连续两个相邻点在标准廓形上下分布时，所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域对应的面积为正负面积。

3.根据权利要求1所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，所述通过等价于梯形和/或等价于三角形计算每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域的面积，具体为：

当测量廓形上连续两个相邻点在标准廓形上方或下方时，通过等价于梯形进行面积计算；

当测量廓形上连续两个相邻点在标准廓形上下分布时，通过等价于三角形进行面积计算。

4.根据权利要求3所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，所述通过等价于梯形和/或等价于三角形计算每个所述测量廓形与所述标准廓形相邻点构成区域的面积，具体为：遍历每个测量廓形的每一个点通过等价于梯形和/或等价于三角形计算每个测量廓形与所述标准廓形相邻点所构成区域的面积，得到测量廓形与标准廓形之间的正向面积s1、负向面积s2、正负面积s；

以此类推，计算所有测量廓形，得到正负面积集合s(n)，正向面积集合s1(n)，负向面积集合s2(n)，n为测量廓形的总数。

5.根据权利要求1所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，所述筛选符合预设条件的所有廓形得到有效廓形集合，包括：

根据预设条件，判断测量廓形是否为有效廓形；

当判断所述测量廓形为有效廓形时，筛选所述测量廓形加入有效廓形集合；

当判断所述测量廓形不是有效廓形时，则删除所述测量廓形。

6.根据权利要求5所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，所述根据预设条件，判断测量廓形是否为有效廓形，具体为：

利用四分位数计算方法，分别计算正向面积、负向面积、正负面积的四分位数；

当所述正向面积、所述负向面积、所述正负面积的四分位数均大于四分之一位数，小于四分之三位数时，判断所述测量廓形为有效廓形。

7.根据权利要求1所述的一种用于轨道打磨的代表廓形生成方法，其特征在于，

所述计算所述参考廓形中每个点到所述有效廓形集合中所有廓形的投影点的平均坐标，包括：

计算所述参考廓形中每个点到所述有效廓形集合中每个廓形的一一对应点对的投影点坐标，得到投影点坐标集合；

计算所述投影点坐标集合中所有点的坐标的平均值，得到投影点平均坐标；

从而计算得到所述参考廓形到所述有效廓形集合的投影点平均坐标集合，从而生成代表廓形。