[发明专利]一种基于数据分析的电容产品检测评估系统

权利要求书

1.一种基于数据分析的电容产品检测评估系统，其特征在于，包括第一图像获取模块、封装缺陷检测模块、第二图像获取模块、结构缺陷检测模块、缺陷分析模块、存储模块；

所述第一图像获取模块，用于获取含有电容器封装壳体的图像，即封装壳体图像；

所述封装缺陷检测模块，用于对封装壳体图像进行预处理，并对电容器型号进行识别，同时获取电容器封装壳体缺陷识别结果；

所述第二图像获取模块，用于获取电容器两个引脚所在位置的图像，即引脚图像；

所述结构缺陷检测模块，用于对引脚图像进行预处理，并获取引脚缺失缺陷识别结果、引脚弯折缺陷识别结果；

所述缺陷分析模块，用于以电容器型号为基础，根据封装壳体缺陷识别结果、引脚缺失缺陷识别结果、引脚弯折缺陷识别结果对该电容器型号在单位时间内生产出来的电容器产品质量进行加权评分；

其中，电容器产品质量评分公式如下：

T＝w1*F+w2*Q+w3*Z

其中，F为单位时间内该型号电容器中存在封装壳体缺陷的电容器数量，Q为单位时间内该型号电容器中存在引脚缺失缺陷的电容器数量，Z为单位时间内该型号电容器中存在引脚弯折缺陷的电容器数量，w1、w2、w3为对应的权重比例，w1、w2、w3的总和为1；

所述存储模块，用于以电容器型号为基础，建立对应电容器型号在单位时间内的质量数据库，质量数据库储存有对应电容器型号在单位时间内生产出来的电容器的封装壳体缺陷识别结果、引脚缺失缺陷识别结果、引脚弯折缺陷识别结果数据，并用于建立标识-型号数据库。

2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的电容产品检测评估系统，其特征在于：所述封装壳体图像包括电容器封装壳体的侧拍图像与电容器封装壳体的俯拍/仰拍图像。

3.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的电容产品检测评估系统，其特征在于：所述封装缺陷检测模块包括第一图像预处理单元、标识检测识别单元、第一轮廓检测识别单元；所述第一图像预处理单元用于对封装壳体图像依次进行降噪、图像增强、灰度处理；所述标识检测识别单元用于通过已训练的第一目标识别网络对封装壳体上的电容器包装形状标识进行识别，获取当前电容器包装形状标识识别结果，根据电容器包装形状标识识别结果获取对应的电容器型号；所述第一轮廓检测识别单元用于对封装壳体图像进行轮廓检测处理，进而判断电容器封装壳体是否存在缺陷，并将当前电容器封装壳体缺陷识别结果发送至缺陷分析模块中。

4.根据权利要求3所述的一种基于数据分析的电容产品检测评估系统，其特征在于：所述标识检测识别单元获取电容器型号的具体过程如下：

S11：将电容器包装形状标识识别结果上传至标识-型号数据库；

S12：在标识-型号数据库中获取电容器包装形状标识识别结果对应的电容器型号。

5.根据权利要求4所述的一种基于数据分析的电容产品检测评估系统，其特征在于：所述第一轮廓检测识别单元获取封装壳体缺陷识别结果的具体过程如下：

S21：利用OpenCv中的轮廓检测函数对封装壳体图像进行轮廓检测处理，获取电容器侧轮廓长度值Lc、顶/底部轮廓长度值Ld；

S22：将步骤S21中检测得到的电容器侧轮廓长度值Lc、顶/底部轮廓长度值Ld对应与无缺陷状态下的电容器侧轮廓长度值Lc_标准、顶/底部轮廓长度值Ld_标准分别作差处理，得到电容器侧轮廓长度差值Lc_差与顶/底部轮廓长度差值Ld_差；

S23：将电容器侧轮廓长度差值Lc_差与电容器侧轮廓长度差值阈值Lc_阈比较，判断Lc_差是否在Lc_阈范围内，同时将电容器顶/底部轮廓长度差值Ld_差与电容器顶/底部轮廓长度差值阈值Ld_阈比较，判断Ld_差是否在Ld_阈范围内，任一个在差值阈值范围内则表示电容器封装壳体存在缺陷，否则表示电容器封装壳体无缺陷；

S24：将当前电容器封装壳体缺陷识别结果发送至缺陷分析模块中。