[发明专利]图像坏点的校正方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202211051476.9 申请日: 2022-08-30
公开(公告)号: CN115330638A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 肖雪;王国利;张骞;黄畅 申请(专利权)人: 北京地平线信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00
代理公司: 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 代理人: 李洪娟
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 校正 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本公开实施例公开了一种图像坏点的校正方法、装置、电子设备和存储介质,其中,方法包括:针对待处理图像数据中的任一像素点,确定以该像素点作为中心像素点的预设尺度的目标数据窗;基于目标数据窗确定中心像素点是否满足预设条件,预设条件包括针对中心像素点的像素值满足的第一条件和/或针对中心像素点对应的至少一个方向的相同通道类型的像素值满足的第二条件;若中心像素点满足预设条件确定中心像素点为坏点;基于目标数据窗中的其他像素点的像素值,确定中心像素点的校正后的目标像素值;基于目标像素值,确定待处理图像数据对应的校正后的目标图像数据。能够有效兼顾坏点召回与高对比度边缘保留,从而提高坏点校正的准确性。

技术领域

本公开涉及图像信号处理技术,尤其是一种图像坏点的校正方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

随着ISP(Image Signal Processing,图像信号处理)在各个行业中的应用越来越多,人们对图像质量提出了更高的要求。但是,图像传感器获得的图像数据通常都具有坏点,影响图像质量。坏点是指图像传感器因工艺缺陷或信号转换过程出现错误导致图像上像素信息有误的像素点。坏点一般有两种类型,即静态坏点和动态坏点,对于静态坏点,其位置不会发生变化,其校正比较容易;对于动态坏点,其在图像中的位置比较随机,需要先确定出坏点位置,才能对其进行校正,因此动态坏点校正比较困难。相关技术中,通常基于像素点与相邻像素点的差值与阈值比较,确定出坏点。但这种方式对于高对比度边缘,不能很好地兼顾坏点的召回与边缘的保留,导致坏点校正不够准确。

发明内容

为了解决上述坏点校正不够准确等技术问题,提出了本公开。本公开的实施例提供了一种图像坏点的校正方法、装置、电子设备和存储介质。

根据本公开实施例的一个方面,提供了一种图像坏点的校正方法,包括:获取待处理图像数据;针对所述待处理图像数据中的任一像素点,基于所述待处理图像数据,确定以该像素点作为中心像素点的预设尺度的目标数据窗;基于所述目标数据窗,确定所述中心像素点是否满足预设条件,所述预设条件包括第一条件和/或第二条件,所述第一条件为针对所述中心像素点的像素值满足的条件,所述第二条件为针对所述目标数据窗中所述中心像素点对应的至少一个方向的相同通道类型的像素点的像素值满足的条件;响应于所述中心像素点满足所述预设条件,确定所述中心像素点为坏点;基于所述目标数据窗中的除所述中心像素点之外的其他像素点的像素值,确定所述中心像素点的校正后的目标像素值;基于所述目标像素值,确定所述待处理图像数据对应的校正后的目标图像数据。

根据本公开实施例的另一个方面,提供了一种图像坏点的校正装置,包括:第一获取模块,用于获取待处理图像数据;第一处理模块,用于针对所述待处理图像数据中的任一像素点,基于所述待处理图像数据,确定以该像素点作为中心像素点的预设尺度的目标数据窗;第二处理模块,用于基于所述目标数据窗,确定所述中心像素点是否满足预设条件,所述预设条件包括第一条件和/或第二条件,所述第一条件为针对所述中心像素点的像素值满足的条件,所述第二条件为针对所述目标数据窗中所述中心像素点对应的至少一个方向的相同通道类型的像素点的像素值满足的条件;第三处理模块,用于响应于所述中心像素点满足所述预设条件,确定所述中心像素点为坏点;第四处理模块,用于基于所述目标数据窗中的除所述中心像素点之外的其他像素点的像素值,确定所述中心像素点的校正后的目标像素值;第五处理模块,用于基于所述目标像素值,确定所述待处理图像数据对应的校正后的目标图像数据。

根据本公开实施例的再一方面,提供一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行本公开上述任一实施例所述的图像坏点的校正方法。

根据本公开实施例的又一方面,提供一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;用于存储所述处理器可执行指令的存储器;所述处理器,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现本公开上述任一实施例所述的图像坏点的校正方法。

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