[发明专利]一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备及方法

权利要求书

1.一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备，其特征在于：包括

检测设备本体，包括

光耦（1），其工作在饱和区或截止区；

第一电阻（2），其第一端与所述光耦（1）正边的正极连接；

第一电源（3），与所述第一电阻（2）的第二端连接；

第二电阻（5），其第一端与所述光耦（1）副边的第一接口端连接；

第三电阻（7），其第一端与所述光耦（1）副边的第二接口端连接；

第一连接接口，与所述第二电阻（5）的第二端连接，且用于与待检测可控硅（9）的第一阳极连接；

第二连接接口，与所述第三电阻（7）的第二端连接，且用于与所述待检测可控硅（9）的第二阳极连接；

第三连接接口，与所述光耦（1）副边的第一接口端连接，且用于与所述待检测可控硅（9）的控制极连接；

负载（6），与所述检测设备本体拆卸式连接，且所述检测设备本体还包括与所述第二电阻（5）的第二端连接的负载接口；

第二电源（8），与所述检测设备本体拆卸式连接，用于提供交流电源，所述检测设备本体还包括与所述第三电阻（7）的第二端连接的电源接口，且所述第二电源（8）与所述负载（6）连接；

PWM波发生器（4），与所述检测设备本体拆卸式连接，用于产生所需占空比的PWM波形，且所述检测设备本体还包括与所述光耦（1）正边负极连接的波形发生器接口；

波形显示器，与所述检测设备本体拆卸式连接，用于获取并显示待检测可控硅（9）第一阳极与待检测可控硅（9）第二阳极之间的电压波形图，且所述检测设备本体还包括与所述第二电阻（5）的第二端连接并用于与所述波形显示器的第一检测端子连接的显示器接口一，以及与所述第三电阻（7）的第二端连接并用于与所述波形显示器的第二检测端子连接的显示器接口二。

2.根据权利要求1所述的一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备，其特征在于：所述导通角检测设备还包括与所述PWM波发生器（4）连接的控制器，所述控制器包括

导通角检测值输入单元，用于输入待检测可控硅（9）的导通角检测值；

占空比计算单元，与所述导通角检测值输入单元连接，根据所述导通角检测值计算出PWM波的所需占空比；

占空比调节单元，与所述占空比计算单元连接，根据所述PWM波的所需占空比调节所述PWM波发生器（4）以使其产生对应占空比的PWM波。

3.根据权利要求2所述的一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备，其特征在于：所述控制器还与所述第二电源（8）连接，且所述控制器还包括

周期调校单元，用于调校所述PWM波以使所述PWM波的周期与所述交流电源的正/负半周期同步。

4.根据权利要求1所述的一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备，其特征在于：所述负载（6）为电机。

5.根据权利要求1所述的一种纺织电控系统用可控硅的导通角检测设备，其特征在于：所述检测设备本体还包括

第四电阻（10），其第一端与所述第二电阻（5）的第二端连接；

电容（11），其正极与所述第四电阻（10）的第二端连接，所述电容（11）的负极与所述第三电阻（7）的第二端连接。