[发明专利]一种全信号测试装置及方法

说明书

本发明实施例提供一种全信号测试装置，包括：连接器，包括连接线和位于连接线两端的连接头，所述连接器内部设有模拟开关，连接头用于与待测试的接头对接；第一终端，输出电平信号至所述连接器，基于所述电平信号控制所述模拟开关选通相应的信号通道，将测试信号发送至第二终端；第二终端，接收所述测试信号，通过测试程序输出测试结果。通过将测试线的一端连接PC机，另一端连接测试板端，并且在测试线插头的尾端添加转接电路板，根据测试板端输出的电平信号，配合转接电路板内置的逻辑电路选通相应的信号通道，从而达到全信号检测的目的。

技术领域

本发明涉及信号测试领域，具体涉及一种全信号测试装置及方法。

背景技术

近年来，伴随着Type-C技术的快速发展，支持Type-C接口的电子设备也越来越多，在手机、PC机等制造业工厂中，对Type-C母座的全功能信号测试显得越来越重要。

在现有技术中，当在PC机中对Type-C母座的全功能信号测试时，现有的Type-C转接线USB信号只能通过一个接入Type-C线的公头，故使用传统的Type-C线只能检测到Type-C母座一组USB信号，Type-C母座引脚的接触面不够且测试效率低下，为了能够检测到Type-C母座的两组USB信号，从而真正实现全功能信号测试的目的，一种“Type-C全信号测试线”在此背景下应运而生。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种全信号测试装置及方法。通过将测试线的一端连接PC机，另一端连接测试板端，并且在测试线插头的尾端添加转接电路板，根据测试板端输出的电平信号，配合转接电路板内置的逻辑电路选通相应的信号通道，从而达到USB全信号检测的目的。

本发明的第一方面，提供一种全信号测试装置，包括：

连接器，包括连接线和位于连接线两端的连接头，所述连接器内部设有模拟开关，连接头用于与待测试的接头对接；

第一终端，输出电平信号至所述连接器，基于所述电平信号控制所述模拟开关选通相应的信号通道，将测试信号发送至第二终端；

第二终端，接收所述测试信号，通过测试程序输出测试结果。

可选地，所述连接器插设在所述接头的尾端，所述连接头设有与所述接头互相适配的测试点。

可选地，所述连接器还包括或门电路，当所述测试点检测当前所述电平信号为低电平时，通过所述或门电路控制所述模拟开关选通第一信号通道；或者，

当所述测试点检测当前所述电平信号为高电平时，通过所述或门电路控制所述模拟开关选通第二信号通道。

可选地，所述待测试的接头为Type-c型接头。

可选地，所述测试点有多个，测试点的上端口设置为与Type-c型接头A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7、A8、A9、A10、A11、A12对应的测试点；以及，

测试点的下端口设置为与Type-c型接头B12、B11、B10、B9、B8、B7、B6、B5、B4、B3、B2、B1对应的测试点。

可选地，所述第一信号通道的端口为A6、A7，所述第二信号通道的端口为B6、B7。

可选地，所述第一终端为单片机，通过所述单片机的I/O口输出高/低电平信号。

可选地，所述第二终端为微型计算机。

本发明的第二方面，提供一种全信号测试方法，包括：

通过第一终端输出电平信号，基于所述电平信号选通待测试的接头相应的信号通道，以进一步发送测试信号；

通过第二终端接收所述测试信号，通过测试程序输出测试结果。