[发明专利]一种全信号测试装置及方法

权利要求书

1.一种全信号测试装置，其特征在于，包括：

连接器，包括连接线和位于连接线两端的连接头，所述连接器内部设有模拟开关，连接头用于与待测试的接头对接；

第一终端，输出电平信号至所述连接器，基于所述电平信号控制所述模拟开关选通相应的信号通道，将测试信号发送至第二终端；

第二终端，接收所述测试信号，通过测试程序输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述连接器插设在所述接头的尾端，所述连接头设有与所述接头互相适配的测试点。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述连接器还包括或门电路，当所述测试点检测当前所述电平信号为低电平时，通过所述或门电路控制所述模拟开关选通第一信号通道；或者，

当所述测试点检测当前所述电平信号为高电平时，通过所述或门电路控制所述模拟开关选通第二信号通道。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述待测试的接头为Type-c型接头。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试点有多个，测试点的上端口设置为与Type-c型接头A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7、A8、A9、A10、A11、A12对应的测试点；以及，

测试点的下端口设置为与Type-c型接头B12、B11、B10、B9、B8、B7、B6、B5、B4、B3、B2、B1对应的测试点。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一信号通道的端口为A6、A7，所述第二信号通道的端口为B6、B7。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一终端为单片机，通过所述单片机的I/O口输出高/低电平信号。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二终端为微型计算机。

9.一种全信号测试方法，其特征在于，包括：

通过第一终端输出电平信号，基于所述电平信号选通待测试的接头相应的信号通道，以进一步发送测试信号；

通过第二终端接收所述测试信号，通过测试程序输出测试结果。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述电平信号为低电平时，选通第一信号通道；或者，

当所述电平信号为高电平时，选通第二信号通道。