[发明专利]一种抑制SiC MOSFET米勒平台电压骤降的驱动电路在审

专利信息
申请号: 202210581674.X 申请日: 2022-05-26
公开(公告)号: CN115021529A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 钟铭浩;李浩;何佳俊;马海伦;常帅军;刘莉 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H02M1/08 分类号: H02M1/08;H02M1/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 段俊涛
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 抑制 sic mosfet 米勒 平台 电压 骤降 驱动 电路
【说明书】:

发明公开了一种抑制SiC MOSFET米勒平台电压骤降的驱动电路,分别设置于上桥臂和下桥臂;驱动电路中,一电阻的一端、第二电阻的一端、第三电阻的一端并联于推挽输出接口;第二电阻的另一端连接第一肖特基二极管的阴极,第三电阻的另一端连接电容的一端和N沟道场效应管的漏极;N沟道场效应管的栅极接第四电阻的一端,第四电阻的另一端接受控脉冲源的正极,受控脉冲源的阴极与N沟道场效应管的源极均连接第二肖特基二极管的阳极;第一肖特基二极管的阳极、第一电阻的另一端、电容的另一端、第二肖特基二极管的阴极均连接SiC MOSFET的栅极。本发明能够抑制SiC MOSFET功率器件的米勒平台电压大幅下降和栅极串扰。

技术领域

本发明属于电力电子驱动技术领域,特别涉及一种抑制SiC MOSFET米勒平台电压骤降的驱动电路,主要用于桥式驱动电路中,减少开关损耗。

背景技术

与Si MOSFET、Si IGBT相比,SiC MOSFET通态电阻最小、开通/关断时间最短,此外SiC MOSFET的输入电容小,因此开关频率更高。SiC MOSFET在功率电子方面的应用十分广泛,它的出现对功率电子的发展具有重大意义。在过去的十年中,SiC MOSFET在高效、高开关频率和高温应用中已经逐渐代替传统Si MOSFET而成为功率电子中最具潜力的晶体管。汽车是未来十年SiC MOSFET的潜在大市场,因为考虑到对全球变暖和能源限制的担忧,HEV/EV的普及正在迅速增加。

由于MOSFET存在寄生参数,随着开关速度的提高,寄生电容和电感对驱动电路的影响变得不可忽略,甚至严重影响MOSFET的正常驱动。MOSFET栅极驱动电路可以等效看成RLC串联电路,不管是电流还是电压的发生改变都会引起栅极电位的变化,从而影响MOSFET的工作状态。因此,对MOSFET栅极驱动电路可靠性设计提出更高的要求。在大电压条件下,当开关管切换开关状态时,互补开关管的漏端会承受很大的dv/dt,从而通过米勒电容给MOSFET的栅源电容充电,当MOSFET漏极电压下降至接近驱动电压时,米勒电容由较小值变为较大值,由于米勒电容变大,因此,需要更多的栅电荷才能使栅极电压上升,因此,米勒电容需从栅漏电容和电源汲取电荷,导致栅极承受很大的di/dt,由于出现大的di/dt,栅源电容被充、放电,导致栅极电位出现严重震荡的情况,出现电压骤升和电压骤降。由于SiCMOSFET的阈值电压比较低,在桥式电路应用中,MOSFET栅极电压的震荡可能会引发串扰,当正电压尖峰超过阈值电压时甚至会导致器件误开启,影响功率转换电路的正常工作;当栅极电压在开启过程中出现电压骤降的情况,MOSFET开启不充分,导通电阻突然增大,增加开关损耗,使MOSFET的可靠性受到影响。

发明内容

为了克服上述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种抑制SiC MOSFET米勒平台电压骤降的驱动电路,能够抑制SiC MOSFET功率器件的米勒平台电压大幅下降和栅极串扰。

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:

一种抑制SiC MOSFET米勒平台电压骤降的驱动电路,所述驱动电路分别设置于上桥臂和下桥臂;所述驱动电路包括四个电阻、两个肖特基二极管、一个电容、一个受控脉冲源和一个N沟道场效应管;

其中,第一电阻的一端、第二电阻的一端、第三电阻的一端并联于推挽输出接口;第二电阻的另一端连接第一肖特基二极管的阴极,第三电阻的另一端连接所述电容的一端和所述N沟道场效应管的漏极;所述N沟道场效应管的栅极接第四电阻的一端,第四电阻的另一端接所述受控脉冲源的正极,所述受控脉冲源的阴极与所述N沟道场效应管的源极均连接第二肖特基二极管的阳极;

第一肖特基二极管的阳极、第一电阻的另一端、所述电容的另一端、第二肖特基二极管的阴极均连接SiC MOSFET的栅极。

示例地,所述推挽输出接口还可接负压驱动。

所述SiC MOSFET的栅极与源极之间不设置并联电容。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210581674.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top