[发明专利]一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统

说明书

本发明公开一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统，包括主控芯片、第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述主控芯片电连接第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述第一PMIC和第二PMIC电连接eMMC芯片以输出电流给eMMC芯片。其通过设置第一PMIC和第二PMIC，可以实现制造精准的电压波动，不仅能够模拟现实中电压掉电的情况，也能模拟出现电压波动对eMMC芯片工作的影响。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统。

背景技术

现有的eMMC芯片具有两路供电，一路是3.3V的VCC，其为闪存(Nand Flash)进行供电，另一路是1.8V的VCCQ，其为控制器供电。eMMC作为一个被动的半导体芯片，理论上正常和稳定的供电是其正常工作的前提。但是在实际使用过程中，由于电源稳定性和环境的影响，供电电压的异常波动和跌落在所难免。这就要求eMMC在供电异常的场景下依然能够保证用户数据的安全和固件(Firmware)正常运行。这种场景对固件(firmware)的错误处理能力和健壮性有较大的挑战。

针对这种情况，目前已经有的成熟的测试方法是通过引入电压控制电路(GPIO信号控制)，在eMMC场景测试过程中，精准实现电压的跌落和恢复。例如，可以实现VCC(为Nand供电)从3.3V跌落至0V,VCCQ从1.8V跌落至0V，这样就相当于插入了一次异常掉电。

但是，现有的做法请参照图1，其只能实现如图2所示的电压的通断，对于如图3所示的电压波动，例如VCC在3.3V-0V之间中间值波动，不能支持。但是电压波动的情况在eMMC运行过程中，特别是对于读写过程，涉及到NAND Flash的操作，VCC的波动会造成很多数据丢失隐患，因此对这种情况的测试具有相当的必要性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统，能对eMMC芯片注入精准的电压波动。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统，包括主控芯片、第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述主控芯片电连接第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述第一PMIC和第二PMIC电连接eMMC芯片以输出电流给eMMC芯片。

本发明的有益效果在于：通过设置第一PMIC和第二PMIC，可以实现制造精准的电压波动，不仅能够模拟现实中电压掉电的情况，也能模拟出现电压波动对eMMC芯片工作的影响，实现对eMMC芯片注入精准的电压波动。

附图说明

图1为现有技术能够制造的电压通断的波形图；

图2为现有技术无法制造的电压波动的波形图；

图3为本发明的一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统的结构示意图；

图4为本发明的一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统的工作流程图；

图5为本发明实施例涉及的VCCQ电压波动的波形图；

图6为本发明实施例涉及的VCC电压波动的波形图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图3，本发明实施例提供了一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统，包括主控芯片、第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述主控芯片电连接第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述第一PMIC和第二PMIC电连接eMMC芯片以输出电流给eMMC芯片。