[发明专利]硅片脱胶处理方法、处理系统及脱胶装置有效
| 申请号: | 202210387252.9 | 申请日: | 2022-04-14 |
| 公开(公告)号: | CN114653638B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
| 发明(设计)人: | 丁海军;张爱鑫;邢旭;兰勇刚 | 申请(专利权)人: | 乐山高测新能源科技有限公司 |
| 主分类号: | B08B1/00 | 分类号: | B08B1/00;B08B1/04;B08B11/00;H01L21/02;B07C5/08;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司: | 北京科慧致远知识产权代理有限公司 11739 | 代理人: | 宋珊珊;李瑞 |
| 地址: | 614000 四川省乐山市五*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硅片 脱胶 处理 方法 系统 装置 | ||
1.一种硅片脱胶处理方法,其特征在于,包括:
获取硅片与晶托组件的侧面图像;
根据所述侧面图像确定硅片顶部与晶托组件底面之间的距离;
判断所述距离是否满足脱胶结束条件,若是则结束脱胶;
根据所述侧面图像确定硅片顶部与晶托组件底面之间的距离,包括:
识别出侧面图像中的硅片轮廓;
将各硅片顶部边缘轮廓拟合成一条曲线;
将晶托组件中最下面的树脂板的底部边缘轮廓拟合成一条直线;
获取侧面图像中直线与曲线之间的最短距离,作为硅片顶部与晶托组件底面之间的距离;
当所述最短距离是在预设范围内,则满足脱胶条件。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取硅片与晶托组件的侧面图像,包括:
控制图像采集组件沿晶托组件的长度方向匀速移动,并在移动过程中采集硅片与晶托组件的多个侧面图像;
将采集到的多个侧面图像进行拼接处理。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:
在移动过程中,根据采集到的侧面图像调整光源亮度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据采集到的侧面图像调整光源亮度包括:
确定采集到的侧面图像中各像素的灰度值;
当各像素的平均灰度值小于灰度下限值时,控制光源增大亮度;
当各像素的平均灰度值大于灰度上限值时,控制光源降低亮度。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,控制图像采集组件沿晶托组件的长度方向匀速移动,具体包括:
控制驱动机构工作,驱动图像采集组件沿滑轨匀速移动,所述滑轨与晶托组件的长度方向相同。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在获取硅片与晶托组件的侧面图像之前,还包括:
控制输送机械手机构工作,以带动盛装硅片的工装篮上升至图像采集组件预设位置,以使图像采集组件能够采集到晶托组件与硅片的侧面图像。
7.一种硅片脱胶处理系统,其特征在于,包括:
用于获取硅片与晶托组件侧面图像的图像采集组件;
处理器,用于执行权利要求1-6任一项所述的方法。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,还包括:
滑轨,沿晶托组件的长度方向延伸;
驱动机构,用于驱动所述图像采集组件沿滑轨移动;
光源,设置于所述图像采集组件的顶部;所述光源的光出射方向朝向硅片。
9.一种脱胶装置,其特征在于,包括:权利要求7或8所述的硅片脱胶处理系统;
所述脱胶装置内设有硅片作业线及输送机械手机构,硅片作业线设有脱胶工位,输送机械手机构用于驱动工装篮移动进入脱胶工位进行脱胶,并在脱胶后将工装篮升起通过图像采集组件进行脱胶识别;所述图像采集组件设置于脱胶工位。
10.根据权利要求9所述的脱胶装置,其特征在于,还包括:
晶托回收线;所述输送机械手机构还用于抓取晶托组件;所述晶托组件的底部留有厚片;
用于识别厚片的图像采集组件;
用于夹持厚片、将厚片与晶托分离并将厚片放于晶托回收线的除厚片机械手机构。
11.根据权利要求9或10所述的脱胶装置,其特征在于,硅片作业线还设有擦胶工位,用于放置经脱胶工位进行脱胶之后得到的硅片;
所述脱胶装置还包括:
用于识别硅片残胶的图像采集组件,设置于所述擦胶工位;
用于对硅片残胶进行擦除的擦胶机械手机构,设置于所述擦胶工位的旁侧。
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