[发明专利]一种UPS性能测试装置及方法

说明书

本发明属于UPS技术领域，具体是一种UPS性能测试装置及方法。首先，本发明公开了一种UPS性能测试装置，包括主控单元、负载功率控制单元和显示单元；所述主控单元分别与负载功率控制单元和显示单元耦接，负载功率控制单元与外部UPS设备耦接；所述负载功率控制单元包括有级功率控制单元和无级功率控制单元。其次，其次，本发明公开了UPS性能测试装置的测试方法，包括如下步骤：1)装置通电，先检测自身的继电器刀闸的闭合时间，并记录下来；2)用户将UPS设备与负载功率控制单元耦接，用户根据UPS设备标定的参数，通过触摸屏向单片机输入测试参数，该测试参数包括测试时间、测试功率。本发明可以帮助用户测试UPS设备的性能是否出现衰减，以便及时维修。

技术领域

本发明属于UPS技术领域，具体是一种UPS性能测试装置及方法。

背景技术

目前，电网、医院、铁路以及其他重要事业单位，都会备有UPS装置，用于保证某些重要设备正常工作。

然而UPS会随着使用年限逐渐老化，其老化特性包括：功率上限下降、输出波形变差、响应速度变慢、运行过热、甚至部分功能缺失的严重情况，在平时可能察觉不出问题，一旦出现停电，很可能UPS会出现不达标的情况，危及重要设备。

以电网公司为例，电网公司几乎每个变电站都配有一台或两台UPS设备，目前电网公司对UPS的维护一般体现在对电池的维护，但是对UPS装置本身缺乏相关的设备，只能临时取各个类型的家电进行带载测试或者凭借经验得出结论，缺乏相关依据。因此，亟需一种用于测试UPS设备性能的装置及方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种UPS性能测试装置及方法，用于测试UPS设备的性能。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

首先，本发明公开了一种UPS性能测试装置，包括主控单元、负载功率控制单元和显示单元；所述主控单元分别与负载功率控制单元和显示单元耦接，负载功率控制单元与外部UPS设备耦接；所述负载功率控制单元包括有级功率控制单元和无级功率控制单元。

进一步地，所述主控单元包括单片机、直流电源和隔离电源，所述直流电源和隔离电源用于提供工作电压；所述有级功率控制单元包括开关模组和功率电阻片组，功率电阻片组包括若干个功率电阻；所述若干个功率电阻的一端分别对应耦接开关模组的其中一侧的一个连接端，若干个功率电阻的另一端均与外部UPS设备的N极耦接，开关模组的另一侧的连接端均与UPS设备的L极耦接。

更进一步地，所述开关模组包括与功率电阻数量相等的继电器，以及给每个继电器配置的继电器控制电路、继电器时间检测电路和电压检测电路，继电器控制电路、继电器时间检测电路和电压检测电路均与单片机耦接，继电器控制电路用于控制继电器的闭合与断开；继电器时间检测电路用于获知继电器闭合的准确迟滞时间；电路检测电路用于检测交流电压的过零时刻。

更进一步地，所述继电器控制电路包括继电器、三极管Q1和电阻R1；所述继电器的常开开关的两个连接端分别与外部UPS设备和功率电阻耦接；继电器的线圈正极与直流电源耦接，线圈负极与三极管的集电极Q1耦接；三极管Q1的发射极与GND端耦接；三极管Q1基极与电阻R1耦接；电阻R1与单片机的输出端耦接。

更进一步地，所述继电器时间检测电路包括包含二极管D1、光电耦合器Q2和电阻R2、R3；所述光电耦合器Q2的光接收端的集电极分别与直流电源和单片机的输出端耦接，光接收端的发射极与GND端耦接；光电耦合器Q2的光发射端的正极与隔离电源耦接，光发射端的负极与外部UPS设备的L极耦接；电阻R2耦接在直流电源与光电耦合器Q2的光接收端的集电极之间；电阻R3耦接在隔离电源与光电耦合器Q2的光发射端的正极之间；二极管D1耦接在光电耦合器Q2的光发射端的负极与外部UPS设备的L极之间，且二极管D1的正极与光电耦合器Q2的光发射端的负极耦接。