[发明专利]直流接触器的累计损伤的计算方法、装置

权利要求书

1.一种直流接触器的累计损伤的计算方法，其特征在于，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：

在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，所述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，所述开断测试的终点为所述输出接触器的电寿命终点；

在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，所述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，所述二元函数数学模型用于反映所述输出接触器的电寿命与所述断口电压及所述分断电流之间的二元函数关系；

采用所述二元函数数学模型根据所述输出接触器在每次开断测试时的所述断口电压、所述分断电流和所述触头单次侵蚀量计算得到所述输出接触器的单次损伤，并将多个所述单次损伤累加计算得到所述输出接触器的累积损伤。

2.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，包括：

在所述第一测试条件下对所述输出接触器进行多次所述开断测试，其中，所述开断测试用于采用精密天平测量所述输出接触器的触头质量，并以所述触头质量表征所述触头单次侵蚀量；

记录每N次的所述开断测试后的所述触头质量的变化量；

如果所述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定所述开断测试的直流电弧对所述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

3.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，包括：

在所述第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，其中，单次的所述开断测试的时间固定，直至所述输出接触器丧失分断能力，则确定所述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为所述输出接触器的电寿命；

通过数学拟合工具拟合所述电寿命与所述断口电压及所述分断电流，得到所述二元函数数学模型。

4.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，在所述第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试之前，所述方法还包括：

设置所述输出接触器的分断测试电路以及所述第二测试条件，其中，所述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，所述第二测试条件包括：设置多组所述断口电压和所述分断电流。

5.一种直流接触器的累计损伤的计算装置，其特征在于，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：

第一测试单元，用于在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，所述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，所述开断测试的终点为所述输出接触器的电寿命终点；

第二测试单元，用于在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，所述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，所述二元函数数学模型用于反映所述输出接触器的电寿命与所述断口电压及所述分断电流之间的二元函数关系；

计算单元，用于采用所述二元函数数学模型根据所述输出接触器在每次开断测试时的所述断口电压、所述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到所述输出接触器的单次损伤，并将多个所述单次损伤累加计算得到所述输出接触器的累积损伤。

6.根据权利要求5所述的计算装置，其特征在于，所述第一测试单元，包括：

第一测试子单元，用于在所述第一测试条件下对所述输出接触器进行多次所述开断测试，其中，所述开断测试用于采用精密天平测量所述输出接触器的触头质量，并以所述触头质量表征所述触头单次侵蚀量；

记录单元，用于记录每N次的所述开断测试后的所述触头质量的变化量；

确定单元，用于如果所述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定所述开断测试的直流电弧对所述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。