[发明专利]显示面板、显示面板的检测方法和显示装置

说明书

本公开涉及一种显示面板、显示面板的检测方法及显示装置。显示面板包括：显示区和非显示区，所述非显示区具有栅极驱动电路和检测电路，所述检测电路用于检测栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多级驱动信号输出端，所述检测电路包括：测试信号线，以及与其相连的多级开关元件；多级所述开关元件与多级所述驱动信号输出端一一对应连接；所述开关元件用于响应所述驱动信号输出端的驱动信号，以将时钟信号施加至所述测试信号线。本公开能够检测出栅极驱动电路的异常情况，并且获取异常的驱动信号输出端的具体级数。

技术领域

本公开属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置。

背景技术

GDL技术(Gate Driver less)，即较少的栅极驱动器技术，是运用显示面板的原有阵列制程将扫描线的驱动电路制作在显示区周围的基板上，使之能替代外接集成电路板(Integrated Circuit，IC)来完成水平扫描线的驱动。GDL技术能减少外接IC的焊接(bonding)工序，有机会提升产能并降低产品成本，而且可以使显示面板更适合制作窄边框或无边框的显示产品。因此，可以采用GDL技术将栅极驱动器制作在薄膜晶体管阵列基板上，从而节省空间及驱动IC的成本。

然而现有面板设计中，当GDL电路出现异常时，难以检测具体是GDL哪一级电路出现异常。由于无法进行精准判断位置，进而很难对GDL电路进行修复，从而造成生产成本浪费，且技术人员很难从设计角度去优化GDL电路。

发明内容

本公开的目的在于提供一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置，能够检测GDL的各级电路输出，以快速应对GDL异常问题，从而可以在设计更加优化，以提升GDL驱动稳定性。

本公开第一方面提供一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述非显示区具有栅极驱动电路和检测电路，所述检测电路用于检测栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括多级驱动信号输出端，其中，所述检测电路包括：测试信号线，以及与其相连的多级开关元件；多级所述开关元件与多级所述驱动信号输出端一一对应连接；所述开关元件用于响应所述驱动信号输出端的驱动信号，以将时钟信号施加至所述测试信号线。

在本公开的一种示例性实施例中，所述开关元件包括第一晶体管，所述第一晶体管的控制端连接所述驱动信号，所述第一晶体管的第一端连接所述时钟信号，第二端连接所述测试信号线。

在本公开的一种示例性实施例中，所述开关元件还包括第二晶体管；所述第二晶体管的第一端连接所述驱动信号，所述第二晶体管的第二端连接所述第一晶体管的控制端，所述第二晶体管的控制端用于响应控制信号，以将所述驱动信号施加至所述第一晶体管的控制端。

在本公开的一种示例性实施例中，所述控制信号为所述时钟信号、所述驱动信号或电源信号。

在本公开的一种示例性实施例中，所述第一晶体管及所述第二晶体管均为N型晶体管；和/或，

所述第一晶体管及所述第二晶体管均为氧化物薄膜晶体管。

在本公开的一种示例性实施例中，所述非显示区内还具有封装结构，所述封装结构内设置有测试焊盘，所述测试焊盘与所述测试信号线电连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述非显示区具有两套所述栅极驱动电路，以及与二者分别对应连接的两套检测电路；所述显示区具有相对的第一侧和第二侧，两套所述栅极驱动电路分别位于所述第一侧和所述第二侧，所述检测电路位于所述栅极驱动电路和所述显示区之间；所述显示区还具有第三侧，所述第三侧位于所述第一侧和第二侧之间，所述封装结构位于所述第三侧；所述封装结构包括多个依次设置的封装单元，其中，首尾两个所述封装单元上设置有所述测试焊盘，两个所述测试焊盘分别与距离其最近的所述测试信号线电连接。