[发明专利]一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质

说明书

本发明公开了一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质，该系统包括：自动测试设备和硬件资源控制器，自动测试设备包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；硬件资源控制器连接自动测试设备，测试程序控制硬件资源控制器获取自动测试设备的测试时间，当测试时间小于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。通过实施本发明，当测试一个测试站点上的被测设备时，另一个测试站点可以重新加载，实现了在处理程序索引时间内进行测试；同时通过测试程序的调用实现了在多个测试站点和被测设备之间的切换，实现了多路复用测试。即通过对处理程序索引时间的利用，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及自动测试设备技术领域，具体涉及一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质。

背景技术

自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)通常与机械处理器耦合。机械处理器将被测设备(Device Under Test，DUT)放置在测试头上进行测试，一旦测试完成就移除DUT，以替换为另一个被测设备进行测试。机械处理器移除和更换DUT所需的时间称为处理程序索引时间。在处理程序索引时间期间，自动测试设备空闲。

但是由于自动测试设备存在处理程序索引时间，且在该处理程序索引时间内，自动测试设备没有进行有效利用，导致现有的自动测试设备测试效率较低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了涉及一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质，以解决现有技术中自动测试设备测试效率较低的技术问题。

本发明提出的技术方案如下：

本发明实施例第一方面提供一种虚拟化自动测试设备的系统，该系统包括：自动测试设备和硬件资源控制器，所述自动测试设备包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；所述硬件资源控制器连接所述自动测试设备，测试程序控制所述硬件资源控制器获取所述自动测试设备的测试时间，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。

结合本发明实施例第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述自动测试设备还包括：测量仪器，所述测量仪器连接所述自动测试设备中的测试头，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备中的测量仪器进行多路复用测试。

结合本发明实施例第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，所述测试程序控制所述硬件资源控制器将测试调制文件下载到所述自动测试设备的测量仪器中，所述测量仪器存储每个测试头对应测试调制文件的通道地址。

结合本发明实施例第一方面第二实施方式，在第一方面第三实施方式中，所述自动测试设备还包括：硬件驱动器，所述硬件驱动器连接在所述硬件资源控制器和所述测量仪器之间。

结合本发明实施例第一方面，在第一方面第四实施方式中，该虚拟化自动测试设备的系统还包括：测试处理器，所述测试处理器用于将被测设备物理的移入和移出测试站点。

结合本发明实施例第一方面第二实施方式，在第一方面第五实施方式中，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备进行多路复用测试，包括：所述测试程序控制所述硬件资源控制器访问所述测量仪器中存储的通道地址，控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。

结合本发明实施例第一方面第一实施方式，在第一方面第六实施方式中，所述测量仪器包括：矢量信号发生器或矢量信号分析仪。

结合本发明实施例第一方面，在第一方面第七实施方式中，所述自动测试设备包括：一个测试头和与所述测试头连接的两个测试站点，当测试时间等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。