[发明专利]内花键精密检测装置

权利要求书

1.内花键精密检测装置，包括底板（1），其特征在于，所述底板（1）的顶部固定安装有锥棒固定座（2），所述锥棒固定座（2）的右侧开设有插孔（3），所述插孔（3）的内部插接有花键检测锥棒（4），所述花键检测锥棒（4）的顶部且位于插孔（3）的内侧开设有限位孔（5），所述锥棒固定座（2）的顶部设置有限位机构（6），所述键检测锥棒（4）的外表面套接有花键检测环（7），所述花键检测环（7）的外侧套接有软快（8），所述花键检测环（7）的内部固定安装有海绵软垫（9）。

2.根据权利要求1所述的内花键精密检测装置，其特征在于，所述限位机构（6）包括安装孔（601），所述锥棒固定座（2）的顶部开设有安装孔（601），所述安装孔（601）的内部活动安装有顶板（602），所述顶板（602）的底部固定安装有两个限位杆（603），两个限位杆（603）的底部均开设有安装槽（604），所述安装槽（604）内壁的左右两侧均固定安装有限位块（605），所述锥棒固定座（2）内底壁的左右两侧均开设有凹槽（606），所述凹槽（606）的内部固定安装有支撑块（607），两个所述支撑块（607）的顶部均固定安装有卡接杆（608），两个所述卡接杆（608）相背离的一侧均固定安装有卡接于限位块（605）顶部的卡块（609）。

3.根据权利要求1所述的内花键精密检测装置，其特征在于，所述花键检测环（7）的外表面开设有放置槽，所述软快（8）活动安装于放置槽的内部，所述海绵软垫（9）位于放置槽的内部。

4.根据权利要求2所述的内花键精密检测装置，其特征在于，两个所述限位杆（603）的底端分别贯穿两个限位孔（5）并延伸至花键检测锥棒（4）的下方，所述限位块（605）的宽度不大于安装槽（604）的半径。

5.根据权利要求2所述的内花键精密检测装置，其特征在于，两个所述卡接杆（608）的顶端均插接于安装槽（604）的内部，所述限位杆（603）的底端位于凹槽（606）的内部。

6.根据权利要求2所述的内花键精密检测装置，其特征在于，两个所述卡接杆（608）分别位于两个限位块（605）相对的一侧，两个所述限位块（605）之间的距离大于卡接杆（608）的直径。

7.根据权利要求2所述的内花键精密检测装置，其特征在于，所述花键检测锥棒（4）的外表面和花键检测环（7）的内壁均开设有花键齿，两个所述限位杆（603）的顶部均固定安装有旋转片。