[发明专利]一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法在审
| 申请号: | 202210019891.X | 申请日: | 2022-01-10 |
| 公开(公告)号: | CN114386271A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
| 发明(设计)人: | 赵琪;魏浩;韩威;魏恒;王亚舟;周媛;卢云龙;赵建欣;刘子奕 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06N3/00 |
| 代理公司: | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人: | 王文庆 |
| 地址: | 050081 河北省石家庄*** | 国省代码: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 考虑 效应 随机 阵列 天线方向图 综合 方法 | ||
1.一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)根据系统应用指标确定矩形天线阵列的阵元数目、阵元间距及单元天线材料,利用全波电磁仿真软件,建立M×N的二维矩形阵列天线模型,进行全波电磁仿真并导出全部天线单元的有源单元方向图;
(2)根据阵列方向图的指标要求,确定混合粒子群算法的优化目标函数;
(3)随机生成NP个粒子作为初始种群;种群的位置表示天线阵列幅相加权值分布,粒子速度值表示天线阵列幅相加权值的变化方向和大小;
(4)基于天线的有源单元方向图和混合粒子群算法产生的幅相加权值,生成天线阵列的远场方向图;根据步骤(2)的优化目标函数计算粒子相对应的适应度,并确定个体适应度的极值Pik和群体适应度的极值
(5)在每次迭代过程中,粒子通过个体极值Pik和群体极值更新自身的速度和位置,即
其中,w为惯性权重;i=1,2,...,NP;k为当前迭代次数;为粒子位置;Vik为粒子速度;c1和c2为加速度因子;r1和r2是分布于[0,1]区间的随机数;
惯性权重w根据下式进行动态变化:
其中,wstart为初始惯性权重;wend为迭代至最大次数时的惯性权重;k为当前迭代次数;kmax为最大迭代次数;
然后,粒子自身进行变异操作,采用保留优秀个体策略,对变异后新粒子适应度更优的个体进行保留;通过迭代在全局范围内搜索最佳的幅相加权值;
(6)根据最优幅相加权结果生成最终的天线阵列综合方向图,验证是否满足系统指标,若不满足指标要求则返回步骤(2),重新修改优化目标函数。
2.根据权利要求1所述的一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法,其特征在于,步骤(1)中,所述全波电磁仿真软件采用HFSS,端口激励源的设置及仿真结果的导出通过HFSS-MATLAB-API方式实现,以实现MATLAB和HFSS的联合仿真。
3.根据权利要求2所述的一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法,其特征在于,步骤(1)中,每个单元天线的有源单元方向图包括两个垂直极化方向(rEtheta,rEphi)上的幅值和相位方向图。
4.根据权利要求3所述的一种考虑互耦效应的随机阵列天线方向图综合方法,其特征在于,步骤(4)中,天线阵列的远场方向图表示为:
其中,M和N分别对应X方向和Y方向上的阵元数量;k为波矢;Im,n为幅度加权值,φm,n为圆极化旋转馈电相位及相位加权值;和包括有源单元方向图的幅度和相位;xm为X方向上阵元位置,yn为Y方向阵元位置;θ0,φ0分别为俯仰扫描角及方位扫描角;
将公式(6)计算得到的合成幅值方向图代入公式(7),得到功率方向图:
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