[发明专利]新型化合物、包含其的前体组合物和利用其的薄膜的制造方法在审

专利信息
申请号: 202180080627.0 申请日: 2021-12-17
公开(公告)号: CN116529417A 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 朴珉星;金孝淑;任民赫;昔壮炫;朴正佑 申请(专利权)人: 韩松化学株式会社
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;宋海花
地址: 韩国首*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 新型 化合物 包含 组合 利用 薄膜 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种化合物,其由以下化学式1表示:

[化学式1]

所述化学式1中,

M为Mn、Fe、Co、Ni或Cu;

R1和R2各自独立地为氢或碳原子数1至4的直链状或支链状烷基;

L为-OR3或-NR4R5

R3为氢或碳原子数1至4的直链状或支链状烷基;

R4和R5各自独立地为氢、碳原子数1至4的直链状或支链状烷基、或碳原子数1至6的直链状或支链状烷基甲硅烷基。

2.根据权利要求1所述的化合物,R1、R2和R3各自独立地为选自由氢、甲基、乙基、正丙基、异丙基、正丁基、异丁基、仲丁基和叔丁基组成的组中的任一种。

3.根据权利要求1所述的化合物,R4和R5各自独立地为选自由氢、甲基、乙基、正丙基、异丙基、正丁基、异丁基、仲丁基、叔丁基、甲基甲硅烷基、二甲基甲硅烷基、三甲基甲硅烷基和三乙基甲硅烷基组成的组中的任一种。

4.一种气相蒸镀用前体组合物,其包含权利要求1至3中任一项所述的化合物。

5.一种薄膜的制造方法,其包括将权利要求4所述的气相蒸镀用前体组合物导入至腔室的步骤。

6.根据权利要求5所述的薄膜的制造方法,所述薄膜的制造方法包括原子层蒸镀法ALD或化学气相蒸镀法CVD。

7.根据权利要求5所述的薄膜的制造方法,其进一步包括注入选自氢(H2)、含氧(O)原子化合物、含氮(N)原子化合物或含硅(Si)原子化合物中的任一种以上作为反应气体的步骤。

8.根据权利要求7所述的薄膜的制造方法,所述反应气体为选自水(H2O)、氧(O2)、氢(H2)、臭氧(O3)、氨(NH3)、联氨(N2H4)和硅烷中的任一种以上。

9.一种薄膜,其利用权利要求4所述的气相蒸镀用前体组合物来制造。

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