[发明专利]用于比较天线辐射图案的方法和装置

权利要求书

1.一种用于评估设备的行为的方法，所述方法包括：

获得第一数据集，所述第一数据集表示与第一天线图案相关的至少两个参数的第一值集；

获得第二数据集，所述第二数据集表示与由所述设备形成的第二天线图案相关的所述至少两个参数的第二值集；

使用度量将所述第一数据集和所述第二数据集相关联以获得关系；以及

使用所述关系来至少评估所述设备的行为。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少两个参数中的第一参数和第二参数涉及相同或不同的物理量。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述至少两个参数中的第一参数和第二参数涉及相同的物理量，其中，所述第一参数与所述物理量的第一性质相关，并且其中，所述第二参数与所述物理量的不同的第二性质相关。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述第一性质和/或所述第二性质在以下中的至少一方面彼此不同：

·所述物理量在空间中的方向；

·所述物理量的极化；

·所述物理量的频率或频率范围；

·所述物理量的测量速率；

·所述物理量的测量分辨率；

·所述物理量的测量网格；

·与所述物理量相关联的功率电平/引起所述物理量的功率电平。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述度量基于以下中的至少一项：

·样本均值，提供所述第一数据集的参数的第一均值和所述第二数据集的参数的第二均值，以将所述第一均值和所述第二均值相关联；

·样本方差，提供所述第二数据集的参数的值相对于所述第一数据集的该参数的值的方差值；

·样本标准差，提供所述第二数据集的参数的值相对于所述第一数据集的该参数的值的标准差值；

·样本均值的分布，提供参数的值与参数的均值相比的分布值；

·假设测试；

·相似度测量，提供指示所述第一数据集和所述第二数据集之间的相似度的相似度值；

·相异度测量，提供指示所述第一数据集和所述第二数据集之间的相异度的相异度值；

·距离测量，提供指示所述第一数据集和所述第二数据集之间的距离的距离值；

·概率分布函数PDF；

·累积分布函数；

·互补累积分布函数。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：

基于所使用的度量来匹配所述第一数据集和/或所述第二数据集的结构，以便在将所述第一数据集和所述第二数据集相关联之前适合公共数据空间或数据结构。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，匹配所述结构包括：

·适配所述第一数据集以匹配所述第二数据集；

·适配所述第二数据集以匹配所述第一数据集；和/或

·适配所述第一数据集和/或所述第二数据集以共同匹配第三数据集结构或数据集空间。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其中，匹配所述第一数据集和/或所述第二数据集包括以下中的一项或多项：

·内插所述第一数据集和/或所述第二数据集的值；

·外推所述第一数据集和/或所述第二数据集的值；

9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法，其中，匹配所述第一数据集和/或所述第二数据集包括：

·适配所述第一数据集的参数值单位以匹配所述第二数据集；

·适配所述第二数据集的参数值单位以匹配所述第一数据集；和/或

·适配所述第一数据集和/或所述第二数据集的参数值单位以共同匹配第三数据集的参数值单位。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述第一天线图案由所述设备在第一条件下生成，其中，所述第二天线图案由所述设备在第二条件下生成；

使得评估所述行为包括考虑所述第一条件和所述第二条件之间的差异。