[实用新型]一种微细电路三光束激光刻蚀装置有效

专利信息
申请号: 202123111214.0 申请日: 2021-12-13
公开(公告)号: CN216531990U 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 林金明;林静;李春山 申请(专利权)人: 无锡锐玛克科技有限公司
主分类号: H05K3/06 分类号: H05K3/06;G01N21/95;G01B11/02
代理公司: 江苏无锡苏汇专利代理事务所(普通合伙) 32593 代理人: 沈彬彬
地址: 214000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 微细 电路 光束 激光 刻蚀 装置
【权利要求书】:

1.一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:包括底座(1),所述底座(1)上设有治具座(2),所述底座(1)上设有用于调节治具座(2)位置的调节机构(3),所述底座(1)上连接有支撑块(11),所述支撑块(11)上安装板(12),所述安装板(12)位于治具座(2)的上方,所述安装板(12)上设有定位组件(4)、实时检测组件(5)、测距仪(6)、高度补偿模组和控制单元,所述控制单元包括激光器和3D动态聚焦振镜(7),所述高度补偿模组通过测距仪(6)测定光源距待刻蚀电路板表面的距离。

2.根据权利要求1所述的一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:所述调节机构(3)包括X轴滑轨(31)、Y轴滑轨(32)、Z轴升降机(33)和θ轴伺服转动座(34),所述X轴滑轨(31)、Y轴滑轨(32)、Z轴升降机(33)和θ轴伺服转动座(34)由下至上依次连接设置,所述治具座(2)连接于θ轴伺服转动座(34)上。

3.根据权利要求1所述的一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:所述测距仪(6)使用激光三角测距的方法测定待刻蚀电路板高度。

4.根据权利要求1所述的一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:所述定位组件(4)为CCD定位相机,所述实时检测组件(5)为CCD实时检测相机,所述CCD定位相机通过图像处理算法对治具座(2)上的待刻蚀电路板进行定位;所述CCD实时检测相机实时检测微细电路刻蚀质量。

5.根据权利要求1所述的一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:所述安装板(12)上连接有除尘管(121),所述除尘管(121)位于治具座(2)上方,所述除尘管(121)的除尘口朝向治具座(2)设置。

6.根据权利要求2所述的一种微细电路三光束激光刻蚀装置,其特征在于:所述X轴滑轨(31)和Y轴滑轨(32)上连接有可伸缩防尘罩(8)。

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