[实用新型]一种LV7745DEV晶体振荡器老炼板

说明书

本公开提供一种LV7745DEV晶体振荡器老炼板，包括：至少一个用于安装LV7745DEV晶体振荡器的试验工位以及用于进行所述LV7745DEV晶体振荡器老炼的试验回路，其中：所述试验回路包括试验电源、第一负载电阻以及第二负载电阻；所述试验电源电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的电源端，所述试验电源通过所述第一负载电阻电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的使能端，所述LV7745DEV晶体振荡器的接地端接地设置。本公开通过合理的电路、试验工位设计，能够完成多个LV7745DEV晶体振荡器的功率老炼试验。

技术领域

本实用新型涉及电子元件可靠性测试领域，尤其涉及一种LV7745DEV晶体振荡器老炼板。

背景技术

老炼试验能够缩短器件早期失效的时间，能充分暴露器件绝大部分的失效机理，是提高器件使用可靠性的有效措施。由于LV7745DEV晶体振荡器采用LCC(Leadless ChipCarriers，无引线芯片座)陶瓷封装，封装特殊，其内部包含一个晶体振荡器，输出差分信号。因此对LV7745DEV晶体振荡器进行高温老炼难度较大，导致其一直处于缺项试验状态，该器件的使用可靠性无法满足实际需。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种LV7745DEV晶体振荡器老炼板，以解决或部分解决上述技术问题。

基于上述目的，本实用新型提供了一种LV7745DEV晶体振荡器老炼板，包括：至少一个用于安装LV7745DEV晶体振荡器的试验工位以及用于进行所述LV7745DEV晶体振荡器老炼的试验回路，其中：

所述试验回路包括试验电源、第一负载电阻以及第二负载电阻；

所述试验电源电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的电源端，所述试验电源通过所述第一负载电阻电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的使能端，所述LV7745DEV晶体振荡器的接地端接地设置；

所述LV7745DEV晶体振荡器的输出端与所述第二负载电阻电连接，所述第二负载电阻接地设置。

进一步地，还包括检测源，所述检测源电连接于所述LV7745DEV晶体振荡器的输出端与所述第二负载电阻之间的线路上。

进一步地，所述试验回路还包括滤波电容，所述滤波电容一端与所述试验电源电相连，另一端接地设置。

进一步地，所述LV7745DEV晶体振荡器包括两个所述输出端，所述试验回路包括两个所述第二负载电阻，每一所述输出端与一所述第二负载电阻电连接，所述第二负载电阻接地设置，每一所述输出端与一所述第二负载电阻电连接之间的线路上对应设置一所述检测源。

进一步地，所述试验工位采用抱式簧片夹紧固定所述LV7745DEV晶体振荡器。

进一步地，所述LV7745DEV晶体振荡器在老炼板上竖向安装。

进一步地，所述第一负载电阻以及所述第二负载电阻在老炼板上立式安装。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的LV7745DEV晶体振荡器老炼板，包括：至少一个用于安装LV7745DEV晶体振荡器的试验工位以及用于进行所述LV7745DEV晶体振荡器老炼的试验回路，所述试验回路包括试验电源、第一负载电阻以及第二负载电阻。其中，所述试验电源电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的电源端，所述LV7745DEV晶体振荡器的接地端接地设置，所述LV7745DEV晶体振荡器的输出端与所述第二负载电阻电连接，所述第二负载电阻接地设置，形成提供LV7745DEV晶体振荡器老炼试验所需功率的闭合回路。所述试验电源通过所述第一负载电阻电连接所述LV7745DEV晶体振荡器的使能端，形成开合闭合回路的开关。闭合回路以及闭合回路开关的协同作用，实现了LV7745DEV晶体振荡器的工作启停，从而完成对LV7745DEV晶体振荡器的功率老炼。

附图说明