[实用新型]一种集成电路BGA封装保护支架有效
| 申请号: | 202122312871.5 | 申请日: | 2021-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN215988674U | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
| 发明(设计)人: | 黄旭彪;吴秉陵;翁友民;黄庭鑫;罗晓东;虞青松 | 申请(专利权)人: | 深圳市铨天科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/50 |
| 代理公司: | 深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527 | 代理人: | 胡小登 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 bga 封装 保护 支架 | ||
本实用新型公开了一种集成电路BGA封装保护支架,涉及BGA封装技术领域。本实用新型包括基板和定位板,基板上表面两端均开设有边槽,定位板位于两个边槽之间,两边槽内部均设置有翻转轴,翻转轴周侧面固定连接有翻折防护板,翻折防护板一表面开设有内置槽,内置槽内部固定安装有若干缓冲弹簧,缓冲弹簧一端固定连接有压板,定位板为“凹”字形板体结构,定位板一表面开设有凹槽。本实用新型通过在内置槽内安装带有缓冲弹簧的压板,将元件本体安装在基板上后,转动两边的翻折防护板,将完成安装的元件本体进行压合,当有外力对元件本体进行挤压时,缓冲弹簧和压板可为其提供良好的缓冲作用力。
技术领域
本实用新型属于BGA封装技术领域,特别是涉及一种集成电路BGA封装保护支架。
背景技术
球栅阵列封装,简称BGA,采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小的体积,更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一,另外与传统TSOP封装方式相比,BGA封装方式有更加快速和有效的散热途径。
传统的BGA封装组件的防护效果较差,容易导致元件的针脚被外力压断,为解决上述问题现设计一种集成电路BGA封装保护支架能有效的解决传统的BGA封装组件的防护效果较差,容易导致元件的针脚被外力压断影响使用寿命的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路BGA封装保护支架解决传统的BGA封装组件的防护效果较差,容易导致元件的针脚被外力压断影响使用寿命的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
本实用新型为一种集成电路BGA封装保护支架,包括基板和定位板,所述基板上表面两端均开设有边槽,所述定位板位于两个边槽之间;
两所述边槽内部均设置有翻转轴,所述翻转轴周侧面固定连接有翻折防护板,所述翻折防护板一表面开设有内置槽,所述内置槽内部固定安装有若干缓冲弹簧,所述缓冲弹簧一端固定连接有压板,通过在内置槽内安装带有缓冲弹簧的压板,将元件本体安装在基板上后,转动两边的翻折防护板,将完成安装的元件本体进行压合,当有外力对元件本体进行挤压时,缓冲弹簧和压板可为其提供良好的缓冲作用力。
进一步地,所述定位板为“凹”字形板体结构,所述定位板一表面开设有凹槽。
进一步地,所述凹槽内部安装有压合板和穿插轴,所述穿插轴穿过定位板和压合板。
进一步地,所述压合板通过穿插轴与定位板转动配合。
进一步地,所述基板上表面开设有安装槽,所述安装槽上表面安装有元件本体,所述元件本体下表面设有若干针脚,所述针脚与安装槽相接触,所述基板一端设置有外延板。
进一步地,所述外延板与基板固定连接,所述外延板两端均开设有第一螺孔,所述第一螺孔内部安装有螺钉。
进一步地,所述基板上表面开设有若干第二螺孔,所述螺钉与第一螺孔和第二螺孔均螺纹配合,通过设置螺钉、第一螺孔和第二螺孔,在完成两个压板的压合防护后,可转动压合板对其进行压紧固定防止脱落。
本实用新型具有以下有益效果:
1、本实用新型通过在内置槽内安装带有缓冲弹簧的压板,将元件本体安装在基板上后,转动两边的翻折防护板,将完成安装的元件本体进行压合,当有外力对元件本体进行挤压时,缓冲弹簧和压板可为其提供良好的缓冲作用力。
2、本实用新型通过设置螺钉、第一螺孔和第二螺孔,在完成两个压板的压合防护后,可转动压合板对其进行压紧固定防止脱落。
当然,实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上的所有优点。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





