[实用新型]一种硬盘测试设备

说明书

本实用新型公开了一种硬盘测试设备，属于硬盘测试技术领域，一种硬盘测试设备，包括测试柜，所述测试柜内部设置有多个测试基台，所述测试基台一侧设置有等间距分布的测试插口，所述测试基台两侧设置有连接机构，所述连接机构上设置有硬盘放置机构，所述硬盘放置机构上设置有推动机构，所述连接机构用于连接硬盘放置机构和测试基台，所述硬盘放置机构用于放置硬盘，所述推动机构用于将硬盘放置机构上的硬盘推入到测试插口中，连接机构包括测试基台两侧开设的T形滑槽，所述T形滑槽内部滑动连接有T形滑轨，它可以实现，方便将硬盘批量插入到测试插口内部，节约时间，提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及硬盘测试技术领域，更具体地说，涉及一种硬盘测试设备。

背景技术

硬盘在生产后，一般需要对硬盘的质量和性能进行检查，在硬盘批量测试时，需要将硬盘逐一装填到测试设备上的测试插口内部，由于测试插口，口径较小，往往逐一插入时，使得硬盘不易对准测试插口，这样比较浪费时间，降低测试效率。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种硬盘测试设备，它可以实现，方便将硬盘批量插入到测试插口内部，节约时间，提高测试效率。

2.技术方案

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种硬盘测试设备，包括测试柜，所述测试柜内部设置有多个测试基台，所述测试基台一侧设置有等间距分布的测试插口，所述测试基台两侧设置有连接机构，所述连接机构上设置有硬盘放置机构，所述硬盘放置机构上设置有推动机构，所述连接机构用于连接硬盘放置机构和测试基台，所述硬盘放置机构用于放置硬盘，所述推动机构用于将硬盘放置机构上的硬盘推入到测试插口中。

进一步的，所述连接机构包括测试基台两侧开设的T形滑槽，所述T形滑槽内部滑动连接有T形滑轨，所述T形滑轨远离测试基台的一端与硬盘放置机构相连接。

进一步的，所述硬盘放置机构包括两个T形滑轨远离测试基台的一端之间固定连接的L形放置盘，所述L形放置盘底侧内壁固定连接等间距分布的隔板，所述隔板顶部两侧呈向着隔板顶部中间位置弯曲的弧形，相邻两个所述隔板之间的距离等于硬盘的厚度，且每相邻两个所述隔板之间位置与每个测试插口相对应。

进一步的，所述推动机构包括L形放置盘等间距开设的L形孔，每个所述L形孔分别位于每相邻两个所述隔板之间位置的中间，每个所述L形孔内部均活动插接有推杆，每个所述L形孔相对两侧内壁均开设有滑槽，所述推杆两侧靠近底侧的位置固定连有滑块，所述滑块与滑槽滑动连接。

进一步的，所述推杆的高度大于L形放置盘的高度，所有所述推杆的顶端之间和底端之间均固定连接有连接杆。

进一步的，上方的所述连接杆一侧靠近顶部的位置固定连接有长铁片，所述L形放置盘顶部固定连接有磁铁条，所述连接杆与L形放置盘内壁接触时，磁铁条与长铁片相接触。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

(1)本方案先将磁铁条与长铁片吸住，之后将硬盘分别放到相邻两个隔板之间，由于隔板顶部两侧呈向着隔板顶部中间位置弯曲的弧形，使得硬盘在放到两个隔板之间时，比较容易放置，然后通过T形滑槽和T形滑轨将L形放置盘推到与测试基台接触，接着在用手推动两个连接杆，使得两个连接杆推动所有的推杆，推杆推动硬盘，并将推杆推到测试插口中，这样可以方便将硬盘批量插入到测试插口内部，节约时间，提高测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型图1的剖视结构示意图；

图3为本实用新型盘放置机构的侧视结构示意图；