[实用新型]一种晶圆升降装置有效
| 申请号: | 202121523830.4 | 申请日: | 2021-07-06 |
| 公开(公告)号: | CN215342551U | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
| 发明(设计)人: | 于强;于如远;李广德 | 申请(专利权)人: | 山东民峰智能科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;G08B3/10;G08B21/24 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 250000 山东省济南市章丘区明水*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 升降 装置 | ||
本实用新型公开了一种晶圆升降装置,包括固定杆、控制器、称重传感器、蜂鸣器、支撑板和升降架本体,所述升降架本体的内部底端焊接有底座,且底座的上表面滑动连接有滑板,所述滑板的上表面固定有连接板,且连接板的上表面螺纹连接有第一固定螺栓,所述固定杆焊接在滑板的上表面,且固定杆的上表面活动插接有连接杆,所述支撑板的一侧外端面活动插接有固定板,且固定板固定在连接杆的上表面,所述称重传感器嵌入固定在支撑板的内部顶端,所述控制器嵌入固定在支撑板的内部底端,所述蜂鸣器嵌入固定在支撑板的内部底端位于控制器的一侧,所述称重传感器的信号发射端与控制器的信号接收端电连接。本实用新型可以感应有无晶圆且便于固定晶圆。
技术领域
本实用新型涉及晶圆的技术领域,具体为一种晶圆升降装置。
背景技术
晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达99.999999999%。
晶圆加工时需要使用升降装置,但是现如今的晶圆升降装置无法感应到有无晶圆,如果晶圆发生破片,升降装置仍然正常升起,取片时可能会导致碰撞损坏,且根据具体实际需求不同,晶圆大小也不同,无法根据晶圆大小进行调节。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶圆升降装置,具备可以感应有无晶圆且便于固定晶圆的优点,解决了晶圆加工时需要使用升降装置,但是现如今的晶圆升降装置无法感应到有无晶圆,如果晶圆发生破片,升降装置仍然正常升起,取片时可能会导致碰撞损坏,且根据具体实际需求不同,晶圆大小也不同,无法根据晶圆大小进行调节的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种晶圆升降装置,包括固定杆、控制器、称重传感器、蜂鸣器、支撑板、第一固定螺栓和升降架本体,所述升降架本体的内部底端焊接有底座,且底座的上表面滑动连接有滑板,所述固定杆焊接在滑板的上表面,且固定杆的上表面活动插接有连接杆,所述支撑板的一侧外端面活动插接有固定板,且固定板固定在连接杆的上表面,所述称重传感器嵌入固定在支撑板的内部顶端,所述控制器嵌入固定在支撑板的内部底端,所述蜂鸣器嵌入固定在支撑板的内部底端位于控制器的一侧。
优选的,所述称重传感器的信号发射端与控制器的信号接收端电连接,且控制器的信号发射端与蜂鸣器的信号接收端电连接。
优选的,所述支撑板的前表面螺纹连接有第二固定螺栓,且第二固定螺栓共设有两个,两个第二固定螺栓关于支撑板的前表面对称分布。
优选的,所述滑板的上表面固定有连接板,且连接板的上表面螺纹连接有第一固定螺栓。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:本实用新型通过设置称重传感器、控制器、蜂鸣器、支撑板、连接杆、滑板和固定杆,达到了可以感应有无晶圆且便于固定晶圆的效果,旋松第一固定螺栓和第二固定螺栓,根据具体实际晶圆的大小拉伸连接板,连接板带动连接杆移动,连接杆带动固定杆移动,固定杆带动滑板滑动,拉伸至适合位置时,旋紧第一固定螺栓和第二固定螺栓,便于固定晶圆,称重传感器可以称出支撑板上表面的重量,如果支撑板上表面没有晶圆,称重传感器传输信号给控制器,控制器传输信号给蜂鸣器,蜂鸣器鸣叫,发出警告,可以提醒工作人员及时停止后期取片流程,防止碰撞导致损坏。
附图说明
图1为本实用新型的主视剖视结构示意图;
图2为本实用新型的主视结构示意图;
图3为本实用新型的连接板拉伸后的主视结构示意图;
图4为本实用新型的电性结构示意图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





