[实用新型]用于芯片数据写入的转盘装置

说明书

本实用新型属于芯片数据写入领域，具体地说是一种用于芯片数据写入的转盘装置，转盘压盖与测试座安装框架的上表面可相对转动地连接，测试座安装框架的下表面连接有针板，针板具有沿轴向直线运动的自由度；测试座安装框架上沿周向均匀设有多个测试座，各测试座均位于转盘压盖与针板之间，每个测试座中均安装有对置于测试座内的芯片进行数据写入的探针，针板的上、下表面均设有触点，上表面上的触点沿针板的周向均布、且与测试座一一对应；转盘压盖上分别开设有入料口、出料口及工艺口，转盘压盖在工作状态时静止不动，测试座安装框架在工作状态时相对转盘压盖旋转。本实用新型的转盘装置结构简单，既可实现旋转运动，同时自身具有阻尼能力。

技术领域

本实用新型属于芯片数据写入领域，具体地说是一种用于芯片数据写入的转盘装置。

背景技术

目前对芯片进行数据写入时，必须将芯片放在装有探针的专用测试座中才能完成对芯片的个性化数据写入。这些专用测试座均为单体式结构，即一次只能盛放一颗空白芯片。这种单体式测试座的结构制约设备的产能，且测试座尺寸较大，结构复杂，维护性欠佳；同时每个测试座需配置独立的压紧机构才能实现芯片与测试座内的探针接触完成对芯片数据的写入，且该压紧机构存压坏芯片隐患的风险。

实用新型内容

为了解决现有测试座完成芯片数据写入存在的上述问题，本实用新型的目的在于提供一种用于芯片数据写入的转盘装置。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

本实用新型包括转盘压盖、测试座安装框架、测试座及针板，其中转盘压盖与所述测试座安装框架的上表面可相对转动地连接，该测试座安装框架的下表面连接有针板，所述针板具有沿轴向直线运动的自由度；所述测试座安装框架上沿周向均匀设有多个测试座，各所述测试座均位于转盘压盖与针板之间，每个所述测试座中均安装有对置于测试座内的芯片进行数据写入的探针，所述针板的上表面及下表面均设有触点，上表面上的触点沿所述针板的周向均布、且与所述测试座一一对应；所述转盘压盖上分别开设有入料口、出料口及工艺口，所述转盘压盖在工作状态时静止不动，所述测试座安装框架在工作状态时相对转盘压盖旋转。

其中：所述转盘压盖上连接有转盘压盖旋转轴，该转盘压盖旋转轴的一端与所述转盘压盖相连，另一端由所述测试座安装框架穿过，所述转盘压盖旋转轴通过轴承与测试座安装框架可相对转动地连接。

所述测试座安装框架的下表面中间部位沿轴向向下延伸、形成延伸部，所述延伸部的端面螺纹连接有针板限位螺钉；所述针板为环形板，内孔与所述延伸部间隙配合，所述针板可相对轴向直线运动地套设于测试座安装框架的下表面，内孔边缘通过所述针板限位螺钉进行轴向限位。

所述测试座安装框架与针板之间设有用于针板复位的缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的两端分别与测试座安装框架及针板抵接。

所述测试座安装框架上安装有导向销轴，所述针板对应导向销轴的位置开设有导向孔，所述导向销轴由该导向孔中穿过，在所述针板进行直线运动过程中起到导向作用。

所述转盘压盖的侧面设有转盘压盖径向定位面，该转盘压盖在工作状态通过所述转盘压盖径向定位面与所在工位的辅助机构A进行面接触实现径向定位。

所述测试座安装框架的一侧设有径向定位槽，该测试座安装框架在工作状态通过所述径向定位槽与所在工位的辅助机构B进行曲面接触，实现所述测试座安装框架上的任意一个测试座与所述转盘压盖上的入料口相对。

所述转盘压盖的下表面设有在芯片写入过程与芯片的上表面抵接的凸槽。

本实用新型的优点与积极效果为：

1.本实用新型结构简单，创新了芯片在数据写入过程中芯片测试座的结构；本实用新型的转盘装置既可实现旋转运动，同时自身具有阻尼能力，在工作状态时，转盘压盖在辅助机构的作用下不旋转，保持静止不动。