[实用新型]一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置

说明书

本实用新型涉及一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，包括用于固定陶瓷基板一边的固定部，用于量测陶瓷基板另一边的量测部，用于连接所述固定部和所述量测部的支撑部，所述固定部为台阶状，所述量测部设有上限位部和下限位部。上述的上限位部和下限位部分别对应陶瓷基板设定尺寸的上限和下限位置点。本实用新型结构简单、制作方便、加工成本低，测量陶瓷基板外形尺寸时，具有方便、快捷、效率高等优势。解决了背景技术中提出的现有的检测对工件外形尺寸的检测操作不方便，检测效率低等问题。

技术领域

本实用新型涉及器件检测用具领域，具体地说，是涉及一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置。

背景技术

低温共烧陶瓷（LTCC）基板和高温共烧陶瓷（HTCC）基板，在由生坯烧结成熟瓷的过程中，存在着烧成收缩的现象。即使对生坯进行高精度的切割，在烧成后，陶瓷基板依然存在着尺寸数据离散的问题。为适应封装的要求，需要对陶瓷基板外形尺寸控制在一定范围内，一般会对其作尺寸公差要求。

通常，对陶瓷基板外形尺寸的测量主要使用游标卡尺量测、螺旋测微仪、影像测量仪。在试验件或小批量产品测量时，游标卡尺量测和螺旋测微仪具有灵活、方便的优势，影像测量仪具有测量精度高、数据采集无纸化等优点。但在批量化生产中，陶瓷基板的外形尺寸测量时无需要求提供精确的尺寸数据，只需判断实际尺寸是否落入目标尺寸的正负公差范围内即可，同时要求检测效率要高。

专利号为CN 209991894 U的专利文件公开了一种器件外形尺寸检测用夹具，可以同时测量高度和宽度的检验夹具，但是该夹具存在着结构复杂、操作不方便、测量效率低的问题。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种结构简单，操作方便且检测效率高的陶瓷基板外形尺寸的量测装置。

为了实现上述实用新型的目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种陶瓷基板外形尺寸的量测装置，包括用于固定陶瓷基板一边的固定部，用于量测陶瓷基板另一边的量测部，用于连接所述固定部和所述量测部的支撑部，所述固定部为台阶状，所述量测部设有上限位部和下限位部。上述的上限位部和下限位部分别对应陶瓷基板设定尺寸的上限和下限位置点。

在量测陶瓷基板时，将陶瓷基板的一边紧密贴靠于固定部，将另外一边自上而下放入到量测部。若陶瓷基板的另一边超出上限位部，则判定陶瓷基板的尺寸超出上限；若陶瓷基板的另一边超出下限位部，则判定陶瓷基板的尺寸超出下限；若陶瓷基板的另一边落入上限位部和下限位部两者之间，则判定陶瓷基板的尺寸合格。

作为优选方案，所述支撑部上还设有朝向固定部的第一滑槽，所述量测部滑动设置在第一滑槽内，且通过调节螺栓紧固。

作为优选方案，所述上限位部和下限位部为凸块和凹槽中的一种或两种的组合。所述凸块和凹槽均可采用锐角、直角、钝角、圆形或椭圆形等形状。

作为优选方案，所述上限位部和下限位部为直角凸块。

作为优选方案，所述量测部与固定部相对的一侧为内凹弧面，所述上限位部和下限位部设置在内凹弧面上。

作为优选方案，所述内凹弧面上设有第二滑槽，所述上限位部和下限位部均滑动设置在第二滑槽内，且通过调节螺栓紧固。

本实用新型结构简单、制作方便、加工成本低，测量陶瓷基板外形尺寸时，具有方便、快捷、效率高等优势。解决了背景技术中提出的现有的检测对工件外形尺寸的检测操作不方便，检测效率低等问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的限定。

图1为本实用新型实施例1的侧面结构示意图；

图2为本实用新型实施例2的侧面结构示意图；