[实用新型]一种电子产品测试装置

说明书

本实用新型公开了一种电子产品测试装置，包括底座、安装座、卡槽、升降座、升降单元、安装臂、测试探头、固定座、限位槽、滑动柱，滑动柱下端同轴固接有压块，滑动柱上端设有限位螺母，其下端套接有限位环，限位环与安装臂之间设有一弹性件，弹性件弹性抵顶限位环并驱动限位环朝下移动，使压块底面低于测试探头底面。本实用新型通过升降单元驱动测试探头下移，并与放置在限位槽内的电子产品接头相接触，进而对电子产品进行性能测试，通过弹性件对限位环的弹性抵顶，使得压块压抵电子产品，使得电子产品在受测过程中，能够处于压紧状态，且便于测试探头脱离与电子产品的接触，防止测试探头上移时，将电子产品带出至限位槽外。

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试装置技术领域，具体为一种电子产品测试装置。

背景技术

传统的电子产品性能测试台包括测试装置及用于与测试装置和电子产品电连接的导线，其中，测试装置用于检测电子产品性能及显示电子产品性能结果。当需要测试电子产品性能时，工作人员手动将导线与电子产品电连接，然后进行测试。当测试结束后，电子产品性能测试台断电，工作人员将电子产品与导线分离，接着将另一个待测试电子产品与导线电连接，进行下一步电子产品性能测试。

现有技术中，需要耗费较大的人力来对电子产品进行测试，因此造成了测试工作的效率较低。

为解决上述问题，因此我们提出一种电子产品测试装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种电子产品测试装置，为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

本实用新型提供一种电子产品测试装置，包括一底座，所述底座上设有下端固接在其上表面的安装座，所述安装座上设有贯穿其宽度方向的、通孔形式的卡槽，所述卡槽内卡合有升降座，所述升降座由升降单元驱动其在卡槽内竖直滑动，其上水平固接有一安装臂，所述安装臂另一端穿出卡槽且安装有用于对电子产品进行测试的测试探头，所述底座上设有一固定座，所述固定座顶部设有供电子产品放置的、且位于测试探头正下方的限位槽，所述安装臂上以测试探头轴线对称竖直滑配穿设有两个滑动柱，所述滑动柱下端同轴固接有压块，所述滑动柱上端设有限位螺母，其下端套接有限位环，所述限位环与安装臂之间设有一弹性件，所述弹性件弹性抵顶限位环并驱动限位环朝下移动，使所述压块底面低于测试探头底面。

作为如上所述技术方案的进一步优化，所述弹性件为套装在滑动柱上的压缩弹簧，所述压缩弹簧弹力方向两端分别弹性抵顶限位环及安装臂。

作为如上所述技术方案的进一步优化，所述压块由软橡胶材质制成。

作为如上所述技术方案的进一步优化，所述升降单元包括竖直转动连接在安装座上的滚珠丝杆，所述滚珠丝杆由安装在安装座顶部的伺服电机驱动其转动，所述升降座上嵌装有丝杆螺母，所述丝杆螺母螺纹套装在滚珠丝杆上。

作为如上所述技术方案的进一步优化，所述升降座上安装有接近开关，所述底座上竖直安装有法兰套，所述法兰套上同轴螺纹穿设有螺杆，所述螺杆上端穿出法兰套且同轴固接有感应块，所述感应块与接近开关配合使用，且用于对所述升降座下移行程进行限位。

与现有技术相比，本实用新型所达到的有益效果是：通过升降单元驱动测试探头下移，并与放置在限位槽内的电子产品接头相接触，进而对电子产品进行性能测试，通过弹性件对限位环的弹性抵顶，使得压块压抵电子产品，使得电子产品在受测过程中，能够处于压紧状态，且便于测试探头脱离与电子产品的接触，防止测试探头上移时，将电子产品带出至限位槽外，设置接近开关与感应块配合使用，能够对升降座的上下移动进行限位，另外设置螺栓在法兰套上螺纹旋合，能够调节感应块的安装高度，以便调节升降座的下移行程。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：