[发明专利]一种复合涂层结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111662902.8 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN116417322A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 陈星建;陈煌琳 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;C23C16/30;C23C16/40;C23C16/455
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 贾慧琴;包姝晴
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合 涂层 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种复合涂层结构,其特征在于,包含:

覆盖在基底上的阻挡层;及

设置在阻挡层外表面的牺牲层,其耐等离子体轰击;

所述的阻挡层相比所述的牺牲层在至少一种溶剂中耐腐蚀。

2.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的溶剂包含酸溶液或碱溶液。

3.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述阻挡层的孔隙率为0。

4.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的阻挡层为包含Al的无机涂层。

5.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的阻挡层包含YAG和/或Al2O3涂层。

6.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的阻挡层通过原子层沉积覆盖所述基底。

7.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的阻挡层的厚度为2μm~10μm。

8.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,在基底与所述的阻挡层之间还设置有保形层。

9.如权利要求8所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的保形层的孔隙率高于阻挡层。

10.如权利要求8所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的保形层包含通过等离子喷涂的Y2O3涂层。

11.如权利要求8所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的保形层的厚度为50μm~200μm。

12.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的牺牲层耐含氧和/或氟的等离子体轰击。

13.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的牺牲层包含含有钇基的涂层。

14.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的牺牲层包含Y2O3涂层、YF3涂层、YOF涂层中的至少一种。

15.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的牺牲层通过物理气相沉积覆盖所述阻挡层的外表面。

16.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的牺牲层的厚度为2μm~5μm。

17.如权利要求1所述的复合涂层结构,其特征在于,所述的基底的粗糙度为10nm~5μm。

18.一种复合涂层结构的制备方法,其特征在于,该方法包含:

提供一基底;

在基底外表面形成一阻挡层;

在阻挡层外表面形成一牺牲层,其耐等离子体轰击;

其中,所述的阻挡层相比所述的牺牲层在至少一种溶剂中耐腐蚀。

19.如权利要求18所述的复合涂层结构的制备方法,其特征在于,在形成阻挡层之前,还包含:在基底外表面形成一保形层,对基底进行全覆盖。

20.如权利要求19所述的复合涂层结构的制备方法,其特征在于,所述保形层通过等离子喷涂覆盖在基底表面。

21.如权利要求19所述的复合涂层结构的制备方法,其特征在于,所述阻挡层通过原子层沉积覆盖所述保形层。

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