[发明专利]一种测试向量的编码方法在审

专利信息
申请号: 202111553469.4 申请日: 2021-12-17
公开(公告)号: CN114325311A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 梁超广;谢达;吴镇;王征;吴明川;丁正楠 申请(专利权)人: 无锡中微亿芯有限公司;中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 代理人: 过顾佳
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 向量 编码 方法
【说明书】:

发明公开了一种测试向量的编码方法,涉及测试技术领域,该方法将测试文件划分为若干个子文件,对于每个包含P行测试向量的子文件,对子文件中的P行测试向量的激励码进行列编码得到M个激励数据帧、对P行测试向量的功能码进行行编码得到P个功能数据帧,得到子文件的编码结果,其中,每个激励数据帧对应一个测试通道、且包含子文件中的全部P行测试向量中对应于测试通道的激励码的编码结果,每个功能数据帧包含对应的一行测试向量中的功能码的编码结果;该方法可以很好的提升测试向量存储深度,尤其在实际使用的测试通道较少的情况下,可以极大的提升压缩效率,可以在测试机有限的存储空间内存储更多的测试向量文件。

技术领域

本发明涉及测试技术领域,尤其是一种测试向量的编码方法。

背景技术

随着集成电路(IC)技术的飞速发展,数字电路的集成度不断提高,涌现了一批像FPGA、CPU之类的高集成度的集成电路,在对这类集成电路进行测试时,尤其是成品测试(FT测试)的功能测试时,其测试复杂度飞速上升,测试向量往往会非常庞大。

为了使得测试机能够满足这些集成电路的功能测试的批量测试,需要测试机能够存储足够多的测试向量,能够存储单片电路功能测试所需的所有测试向量,对测试机的内部存储空间的要求较高。如果测试机不能满足单片电路功能测试所需的测试向量深度,则需要分多次加载,由于加载测试向量占用整个测试过程的主要时间,因此将会使得测试效率大打折扣。

发明内容

本发明人针对上述问题及技术需求,提出了一种测试向量的编码方法,本发明的技术方案如下:

一种测试向量的编码方法,该方法包括:

获取测试文件,测试文件包括若干行测试向量,每行测试向量包括一个功能码和M个激励码,每个激励码对应执行测试文件的测试机的一个测试通道;功能码用于指示测试向量执行的测试功能,每个测试通道对应的激励码用于指示测试通道在当前测试向量下的测试行为信息;

将测试文件划分为若干个子文件,每个子文件包括测试文件中的P行测试向量;

对于每个子文件,对子文件中的P行测试向量的激励码进行列编码得到M个激励数据帧、对P行测试向量的功能码进行行编码得到P个功能数据帧,得到子文件的编码结果,其中,每个激励数据帧对应一个测试通道、且包含子文件中的全部P行测试向量中对应于测试通道的激励码的编码结果,每个功能数据帧对应一行测试向量、且包含对应的一行测试向量中的功能码的编码结果。

其进一步的技术方案为,将测试文件划分为若干个子文件,包括:

将测试文件中连续的若干行相同的测试向量压缩处理为一行测试向量,压缩得到的一行测试向量的功能码用于指示执行压缩前的所有测试向量的测试功能,压缩得到的一行测试向量的各个激励码与压缩前的任意一行测试向量的激励码分别相同,相同的测试向量是功能码的功能标识相同、且针对各个测试通道的激励码均分别相同的多行测试向量,功能标识包括行重复功能标识R、段重复功能标识LOOP、暂停功能标识PAUSE和PPMU测试功能标识PPMU中的任意一种;

将完成压缩处理的测试文件划分为若干个子文件,每个子文件包括完成压缩处理的测试文件中的连续的P行测试向量。

其进一步的技术方案为,该方法还包括:

在测试文件中的测试向量的总行数不是P的整数倍时,在测试文件中添加若干行补行测试向量至P的整数倍,每个补行测试向量包括一个行重复功能码和M个激励码,且补行测试向量中的各个激励码均用于指示对应测试通道在当前补行测试向量下的测试行为信息为任意状态。

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