[发明专利]面板检测方法、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种面板检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测面板的图像；

显示用户界面，其中所述用户界面包括第一可操作控件；

利用所述第一可操作控件自用户接收针对所述待检测面板的图像中的电极的分段信息，并根据所述分段信息将所述电极中的每个电极分段，以获得所述电极中每个电极的多个分段；以及

根据检测参数检测每个分段，以确定所述待检测面板是否合格。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述用户界面还包括第二可操作控件，所述方法还包括：

利用所述第二可操作控件自用户接收所述检测参数。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述用户界面还包括第三可操作控件，所述方法还包括：

利用所述第三可操作控件自用户接收关于以下内容中的一个或多个的信息，以确定具体的检测对象：所述方法所应用的检测平台、所述检测平台上的待检测面板的检测边和/或检测位置。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述用户界面还包括第四可操作控件，所述方法还包括：

利用所述第四可操作控件自用户接收关于所述电极的范围的信息，以限定所述分段和所述检测所应用到的具体的电极。

5.如权利要求4所述的方法，其中，所述第四可操作控件包括第五可操作控件和/或第六可操作控件，

所述利用所述第四可操作控件自用户接收关于所述电极的范围的信息包括：

响应于用户对所述第五可操作控件的操作，确定所述方法应用于全部电极；和/或

响应于用户对所述第六可操作控件的操作，确定所述电极的标识符，以根据所确定的标识符确定所述电极的范围。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所述检测参数包括：每个所述分段至少包括的粒子个数。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述检测参数还包括以下参数中的一项或多项：

电极上的粒子的阴刻部分和阳刻部分之间的灰度差值的最小值；

电极至少包括的粒子个数；

最多连续不合格的电极的个数；

黑色缺陷检测参数；以及

白色缺陷检测参数。

8.如权利要求7所述的方法，其中，

所述黑色缺陷检测参数包括：黑色缺陷的灰度阈值、黑色缺陷的横向尺寸阈值和黑色缺陷的纵向尺寸阈值；

所述白色缺陷检测参数包括：白色缺陷的灰度阈值、白色缺陷的横向尺寸范围阈值和白色缺陷的纵向尺寸范围阈值。

9.如权利要求1所述的方法，其中，所述检测参数包括边缘限定阈值，所述边缘限定阈值用于限定所述电极的边缘；

所述根据检测参数检测每个分段以确定所述待检测面板是否合格包括：

根据检测参数检测每个分段中除所述边缘以外的区域，以确定所述待检测面板是否合格。

10.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一可操作控件用于接收分段的个数n的信息；

所述根据所述分段信息将所述电极中的每个电极分段包括：

基于所述分段的个数n，将每个电极平均分成n个分段。

11.一种面板检测系统，包括

图像获取模块，用于获取待检测面板的图像；

显示模块，用于显示用户界面，其中所述用户界面包括第一可操作控件；

分段模块，用于利用所述第一可操作控件自用户接收针对所述待检测面板的图像中的电极的分段信息，并根据所述分段信息将所述电极中的每个电极分段，以获得所述电极中每个电极的多个分段；以及

检测模块，用于根据检测参数检测每个分段，以确定所述待检测面板是否合格。