[发明专利]温度采样校正电路、温度采样装置和车辆

权利要求书

1.一种温度采样校正电路，其特征在于，包括：分压单元、分压校正单元、放大校正单元和运算放大单元，其中，

所述分压单元包括热敏电阻，所述分压单元用于对所述热敏电阻上的电压进行分压，输出分压电压；

所述分压校正单元用于根据所述热敏电阻感应到的温度变化对所述分压电压进行校正，输出校正电压；

所述放大校正单元用于根据所述校正电压确定所述放大校正单元的输出放大系数；

所述运算放大单元用于根据所述输出放大系数对所述校正电压进行放大处理，输出温度采样电压；

其中，所述分压校正单元包括：

第一二极管和第一电阻，所述第一二极管的阳极与所述热敏电阻的一端相连且具有第一节点，所述第一二极管的阴极与所述第一电阻的一端相连，所述第一电阻的另一端与所述热敏电阻的另一端相连后接地；

所述放大校正单元包括：

第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第一节点相连；

第二二极管，所述第二二极管的阳极与所述第一节点相连；

第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二二极管的阴极相连，所述第三电阻的另一端与所述第二电阻的另一端相连且具有第二节点，所述第二节点与所述运算放大单元的反相输入端相连；

第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第二节点相连，所述第四电阻的另一端与所述运算放大单元的输出端相连。

2.如权利要求1所述的温度采样校正电路，其特征在于，所述分压单元还包括分压电阻，所述分压电阻的一端连接到第一参考电源，所述分压电阻的另一端与所述热敏电阻的一端相连。

3.如权利要求1所述的温度采样校正电路，其特征在于，所述运算放大单元包括：

第五电阻，所述第五电阻的一端连接到第二参考电源；

第六电阻，所述第六电阻的一端与所述第五电阻的另一端相连且具有第三节点，所述第六电阻的另一端接地；

第一运算放大器，所述第一运算放大器的反相输入端与所述第二节点相连，所述第一运算放大器的同相输入端与所述第三节点相连，所述第一运算放大器的输出端作为所述运算放大单元的输出端。

4.如权利要求1-3中任一项所述的温度采样校正电路，其特征在于，所述热敏电阻为NTC热敏电阻。

5.一种温度采样装置，其特征在于，包括：

如权利要求1-4中任一项所述的温度采样校正电路；

A/D采样转换单元，所述A/D采样转换单元用于对所述温度采样校正电路输出的温度采样电压进行A/D采样，以获得所述热敏电阻感应到的温度。

6.如权利要求5所述的温度采样装置，其特征在于，还包括设置在所述温度采样校正电路与所述A/D采样转换单元之间的差分放大单元，所述差分放大单元用于对所述温度采样校正电路输出的温度采样电压进行差分放大，以便所述A/D采样转换单元对差分放大后的温度采样电压进行A/D采样。

7.如权利要求6所述的温度采样装置，其特征在于，所述差分放大单元包括：

第七电阻，所述第七电阻的一端与所述温度采样校正电路的输出端相连；

第八电阻，所述第八电阻的一端与所述第七电阻的另一端相连且具有第四节点，所述第八电阻的另一端连接到第三参考电源；

第九电阻，所述第九电阻的一端连接到第四参考电源；

第十电阻，所述第十电阻的一端与所述第九电阻的另一端相连且具有第五节点；

第二运算放大器，所述第二运算放大器的同相输入端与所述第四节点相连，所述第二运算放大器的反相输入端与所述第五节点相连，所述第二运算放大器的输出端与所述第十电阻的另一端相连。

8.一种车辆，其特征在于，包括根据权利要求5-7中任一项所述的温度采样装置。