[发明专利]预估镀膜速率获取系统在审

专利信息
申请号: 202111399472.5 申请日: 2021-11-19
公开(公告)号: CN114090657A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 鲁程龙;高福利;井英立 申请(专利权)人: 布勒莱宝光学设备(北京)有限公司
主分类号: G06F16/2458 分类号: G06F16/2458
代理公司: 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 代理人: 黄利萍
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 预估 镀膜 速率 获取 系统
【权利要求书】:

1.一种预估镀膜速率获取系统,其特征在于,包括:通信连接的数据测量装置、日志数据库和服务器,所述服务器包括处理器和存储器,所述存储器中存储有计算机程序,所述日志数据库的第i条记录包括(i,w1i,w2i,Yi),w1i为第i个采样周期对应的实测镀膜速率修正系数,w2i为第i个采样周期对应的预估镀膜速率修正系数,Yi为第i个采样周期对应的预估镀膜速率i的取值为1到n-1,n为采样周期的数量;所述数据测量装置用于按照预设采样周期获取实测镀膜速率并发送给所述处理器;

其中,在接收到采样周期n测量的实测镀膜速率Xn时,所述处理器执行计算机程序以实现如下步骤:

S100,从日志数据库中获取w1n-1、w2n-1和Yn-1

S200,基于Xn和获取的w1n-1、w2n-1和Yn-1确定Yn

S300,将获取的Yn存储到日志数据库中;

S400,设置n=n+1。

2.根据权利要求1所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,还包括配置文件,所述配置文件中存储有预设的数据测量装置的测量误差Q;

所述日志数据库中的第i条记录还包括Pi,Pi为第i个采样周期对应的实测镀膜速率修正误差,与Q相关。

3.根据权利要求2所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,在S200之后还包括:

S210,基于Q和Pn-1获取Pn

在S300之后还包括:

S310,将获取的Pn存储到日志数据库中。

4.根据权利要求1所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,Yn与Xn正相关。

5.根据权利要求2所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,Yn还与Yn-1正相关。

6.根据权利要求5所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,Yn=w1n-1*Xn+w2n-1*Yn-1

7.根据权利要求1所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,Y0=0,P0=1。

8.根据权利要求1至7任一项所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,w1i为第一预设值a,w2i为第二预设值b,a远小于b,且a+b=1。

9.根据权利要求1至3任一项所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,w1i和w2i基于数据测量装置的测量误差Q和Pi-1确定,并且,w1i+w2i=1。

10.根据权利要求9所述的预估镀膜速率获取系统,其特征在于,w1i=Pi-1(Pi-1+Q)-1,w2i=1-w1i

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