[发明专利]一种微电极测量装置及其测量方法在审
| 申请号： | 202111387166.X | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN114112865A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 周红梅;王长振;赵雪龙;董国福;刘琦 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军事科学院军事医学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G01N27/00 |
| 代理公司： | 天津知晓邦知识产权代理事务所(普通合伙) 12253 | 代理人： | 肖伟杨 |
| 地址： | 100000 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 微电极 测量 装置 及其 测量方法 | ||
1.一种微电极测量装置，包括测量体，其特征在于，所述测量体与前置放大模块(4)连接，所述前置放大模块(4)与采集处理模块(5)连接，所述采集处理模块(5)与电压刺激模块(6)连接，所述电压刺激模块(6)与测量体连接；所述采集处理模块(5)还连接有上位机(7)。
2.根据权利要求1所述的一种微电极测量装置，其特征在于，所述电压刺激模块(6)与测量体之间设有高阻抗固态开关(8)。
3.根据权利要求1所述的一种微电极测量装置，其特征在于，所述前置放大模块(4)包括依次连接的首级输入放大器、次级放大器、末级放大器。
4.根据权利要求1所述的一种微电极测量装置，其特征在于，所述测量体包括64个通道微电极，64个微通道电极形成微电极阵列。
5.根据权利要求1所述的一种微电极测量装置，其特征在于，所述采集处理模块(5)包括FPGA芯片，所述FPGA芯片分别与AD芯片、USB芯片连接。
6.一种微电极测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1：测量体产生微弱、驱动力低的电压信号；
S2：信号传递到前置放大模块(4)中；
S3：前置放大模块(4)对信号进放大，放大信号的同时使信号具有一定的驱动能力；
S4：采集处理模块(5)对信号进行采样；
S5：采集处理模块(5)将采样数据发送给上位机(7)；
S6：采集处理模块(5)根据上位机(7)输入产生刺激波形；
S7：电压刺激模块(6)对测量体的微电极进行刺激。
7.根据权利要求6所述的一种微电极测量方法，其特征在于，还包括S8：
在产生刺激电压的过程中无需断开采集电路。
8.根据权利要求6所述的一种微电极测量方法，其特征在于，所述S3具体为：
S31：直接将信号放大100倍，放大信号的同时使信号具有一定的驱动能力；
S32：第二次放大，将信号放大适合采集处理模块采样的幅度。
9.根据权利要求6所述的一种微电极测量方法，其特征在于，所述S4具体为：
S41：用多通道ADC实现100Kfps采样，16位采样精度；
S42：通过FPGA抽取实现50kfps和25kfps采样。
10.根据权利要求6至9任一项权利要求所述的一种微电极测量方法，其特征在于，所述S6和S7之间还包括S6.1:
S6.1:采集处理模块(5)输出范围不符合要求时再控制前置放大模块(4)进行放大。
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