[发明专利]动态随机存取存储器结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111385118.7 申请日: 2021-11-22
公开(公告)号: CN116096072A 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 黄凯隽 申请(专利权)人: 力晶积成电子制造股份有限公司
主分类号: H10B12/00 分类号: H10B12/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种动态随机存取存储器结构,包括:

基底;

埋入式字线结构,位于所述基底中;

位线结构,位于所述埋入式字线结构的一侧的所述基底上;

接触窗,位于所述埋入式字线结构的另一侧的所述基底上;

多个间隙壁,位于所述接触窗的两侧;以及

接垫,位于所述接触窗上,且位于相邻两个所述间隙壁之间。

2.如权利要求1所述的动态随机存取存储器结构,其中位于所述接触窗下方的所述基底具有凹陷,且部分所述接触窗位于所述凹陷中。

3.如权利要求1所述的动态随机存取存储器结构,还包括:

阻障层,位于所述接触窗与所述基底之间。

4.一种动态随机存取存储器结构的制造方法,包括:

提供基底;

在所述基底中形成埋入式字线结构;

在所述埋入式字线结构的一侧的所述基底上形成位线结构;

在所述埋入式字线结构的另一侧的所述基底上形成接触窗;

在所述接触窗的两侧形成多个第一间隙壁;以及

在所述接触窗上形成接垫,其中所述接垫位于相邻两个所述第一间隙壁之间。

5.如权利要求4所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述位线结构包括:

位线接触窗,位于所述基底上;

位线,位于所述位线接触窗上;以及

硬掩模层,位于所述位线上。

6.如权利要求5所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接触窗的形成方法包括:

在所述基底上形成牺牲层;

在所述牺牲层中形成多个第一开口;

在多个所述第一开口中形成多个第二间隙壁;

移除所述牺牲层,而形成第二开口,且暴露出所述基底;以及

在所述第二开口中形成所述接触窗,其中所述接触窗的顶面的高度低于所述第二间隙壁的顶面的高度,而形成第一凹陷。

7.如权利要求6所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接垫与所述第一间隙壁的形成方法包括:

降低所述硬掩模层的高度,而使得所述第一凹陷延伸至所述硬掩模层上方;

在所述第一凹陷中形成接垫层;

在形成所述接垫层之后,移除所述第二间隙壁,而形成第三开口;

在所述第三开口中形成所述第一间隙壁,其中所述第一间隙壁的材料与所述第二间隙壁的材料不同;以及

对所述接垫层进行图案化,而形成所述接垫。

8.如权利要求6所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,还包括:

在移除所述牺牲层之后,移除部分所述基底,而在所述基底中形成第二凹陷。

9.如权利要求5所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接触窗的形成方法包括:

在所述基底上形成接触窗层;以及

对所述接触窗层进行图案化,而形成所述接触窗与多个第一开口。

10.如权利要求9所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接垫与所述第一间隙壁的形成方法包括:

在多个所述第一开口中形成多个第二间隙壁;

降低所述硬掩模层的高度与所述接触窗的高度,而在所述硬掩模层与所述接触窗上方形成第一凹陷;

在所述第一凹陷中形成接垫层;

对所述接垫层进行图案化,而形成所述接垫;

在形成所述接垫之后,移除所述第二间隙壁,而形成第二开口;以及

在所述第二开口中形成所述第一间隙壁,其中所述第一间隙壁的材料与所述第二间隙壁的材料不同。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶积成电子制造股份有限公司,未经力晶积成电子制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111385118.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top