[发明专利]动态随机存取存储器结构及其制造方法在审
| 申请号: | 202111385118.7 | 申请日: | 2021-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN116096072A | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
| 发明(设计)人: | 黄凯隽 | 申请(专利权)人: | 力晶积成电子制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H10B12/00 | 分类号: | H10B12/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
| 地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 动态 随机存取存储器 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种动态随机存取存储器结构,包括:
基底;
埋入式字线结构,位于所述基底中;
位线结构,位于所述埋入式字线结构的一侧的所述基底上;
接触窗,位于所述埋入式字线结构的另一侧的所述基底上;
多个间隙壁,位于所述接触窗的两侧;以及
接垫,位于所述接触窗上,且位于相邻两个所述间隙壁之间。
2.如权利要求1所述的动态随机存取存储器结构,其中位于所述接触窗下方的所述基底具有凹陷,且部分所述接触窗位于所述凹陷中。
3.如权利要求1所述的动态随机存取存储器结构,还包括:
阻障层,位于所述接触窗与所述基底之间。
4.一种动态随机存取存储器结构的制造方法,包括:
提供基底;
在所述基底中形成埋入式字线结构;
在所述埋入式字线结构的一侧的所述基底上形成位线结构;
在所述埋入式字线结构的另一侧的所述基底上形成接触窗;
在所述接触窗的两侧形成多个第一间隙壁;以及
在所述接触窗上形成接垫,其中所述接垫位于相邻两个所述第一间隙壁之间。
5.如权利要求4所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述位线结构包括:
位线接触窗,位于所述基底上;
位线,位于所述位线接触窗上;以及
硬掩模层,位于所述位线上。
6.如权利要求5所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接触窗的形成方法包括:
在所述基底上形成牺牲层;
在所述牺牲层中形成多个第一开口;
在多个所述第一开口中形成多个第二间隙壁;
移除所述牺牲层,而形成第二开口,且暴露出所述基底;以及
在所述第二开口中形成所述接触窗,其中所述接触窗的顶面的高度低于所述第二间隙壁的顶面的高度,而形成第一凹陷。
7.如权利要求6所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接垫与所述第一间隙壁的形成方法包括:
降低所述硬掩模层的高度,而使得所述第一凹陷延伸至所述硬掩模层上方;
在所述第一凹陷中形成接垫层;
在形成所述接垫层之后,移除所述第二间隙壁,而形成第三开口;
在所述第三开口中形成所述第一间隙壁,其中所述第一间隙壁的材料与所述第二间隙壁的材料不同;以及
对所述接垫层进行图案化,而形成所述接垫。
8.如权利要求6所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,还包括:
在移除所述牺牲层之后,移除部分所述基底,而在所述基底中形成第二凹陷。
9.如权利要求5所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接触窗的形成方法包括:
在所述基底上形成接触窗层;以及
对所述接触窗层进行图案化,而形成所述接触窗与多个第一开口。
10.如权利要求9所述的动态随机存取存储器结构的制造方法,其中所述接垫与所述第一间隙壁的形成方法包括:
在多个所述第一开口中形成多个第二间隙壁;
降低所述硬掩模层的高度与所述接触窗的高度,而在所述硬掩模层与所述接触窗上方形成第一凹陷;
在所述第一凹陷中形成接垫层;
对所述接垫层进行图案化,而形成所述接垫;
在形成所述接垫之后,移除所述第二间隙壁,而形成第二开口;以及
在所述第二开口中形成所述第一间隙壁,其中所述第一间隙壁的材料与所述第二间隙壁的材料不同。
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