[发明专利]一种气密性测试设备在审

专利信息
申请号: 202111322264.5 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114054387A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 代文文;刘彬;黎宗彩;汤勇杰 申请(专利权)人: 博众精工科技股份有限公司
主分类号: B07C5/38 分类号: B07C5/38;B07C5/34
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 唐灵
地址: 215299 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 气密性 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种气密性测试设备,其特征在于,包括:

上料组件,所述上料组件安装在底板上,所述上料组件上设有用于输送待检测气密性的产品的上料载具;

检测组件,所述检测组件安装在所述底板上,通过在空间上移动的搬运机械手将所述上料载具上的产品搬运至检测组件的检测工位内,以对产品进行气密性检测;

下料组件,所述下料组件安装在所述底板上,所述下料组件包括合格产品回收组件和NG产品回收组件,所述搬运机械手将气密性检测后的产品搬运至中转载具上,在空间上移动的搬运模组将中转载具上气密性检测合格的产品搬运至合格产品回收组件上,搬运模组将中转载具上气密性检测不合格的产品搬运至NG产品回收组件上。

2.如权利要求1所述的一种气密性测试设备,其特征在于,所述检测组件包括检测模块和检测机构,所述检测模块设置在所述底板上,所述检测模块的两侧设有两排对称设置的检测机构,且对称设置的两个检测机构均安装在同一组第一导轨上,每排检测机构中包括多个呈直线分布的检测机构,每排检测机构的外侧均设有对应的上料组件、中转载具、CCD视觉检测器和搬运机械手。

3.如权利要求2所述的一种气密性测试设备,其特征在于,所述上料组件包括水平固定在底板上的第一直线模组和固定在第一直线模组的驱动件上的上料载具,所述第一直线模组驱动所述上料载具水平移动,所述上料载具上设有多个用于承载并定位产品的定位槽,所述搬运机械手安装在顶板上,所述顶板通过多根立柱固定在所述底板上,所述搬运机械手的工作端设有用于抓取产品的第一负压吸嘴,所述中转载具水平固定在第一旋转电机的输出轴上,所述第一旋转电机驱动所述中转载具水平转动,所述第一旋转电机通过连接架固定在所述底板上,所述中转载具的两端分别设有第一分料块和第二分料块,所述第一分料块和第二分料块上均设有用于承载并定位产品的定位槽。

4.如权利要求2所述的一种气密性测试设备,其特征在于,所述检测机构包括测试座、竖直压紧机构和侧面封堵机构,所述测试座水平固定在测试滑台气缸的驱动件上,所述测试滑台气缸固定在滑动座上,所述滑动座水平滑动安装在所述第一导轨上,所述第一导轨水平固定在所述底板上,所述滑动座上设有竖直插拔的定位销,所述定位销的下端插入定位块上设置的销孔内,以将所述滑动座定位在所述第一导轨上,所述定位块固定在所述底板上,所述测试座的上表面设有用于匹配定位待测试产品的安装槽,所述安装槽的底部设有匹配伸入产品内的支撑胶芯,所述支撑胶芯内设有竖直的通孔,所述测试座的侧面固定有插接管,所述插接管通过测试座内部设置的气道与支撑胶芯上的通孔连通,所述插接管活动插接在转接块上,所述转接块通过连接板固定在所述滑动座上,所述转接块上设有与所述插接管对应匹配的插接孔,所述插接孔外端的内壁上设有密封环,当所述插接管插入所述插接孔内,所述密封环径向密封在插接管和插接孔之间,使得插接管和插接孔密封连通,所述转接块上固定有与所述插接孔连通的气管,所述气管与所述检测模块上的测试气路连通,所述滑动座上还固定支撑框架,所述测试滑台气缸位于所述支撑框架内,所述竖直压紧机构和侧面封堵机构均安装在所述支撑框架上,所述竖直压紧机构用于竖直压紧所述安装槽内的产品,所述侧面封堵机构用于封堵所述安装槽内产品侧面的漏气孔。

5.如权利要求4所述的一种气密性测试设备,其特征在于,所述竖直压紧机构包括第二旋转电机、第一滑动架和第一压块,所述第二旋转电机竖直设置且其通过多根竖直的第一连接杆固定在支撑框架的顶部,所述第二旋转电机的输出轴同轴固定有竖直向下伸出的第一丝杆,所述第一丝杆的自由端转动安装在所述支撑框架上,所述第一丝杆上通过螺纹连接有与其同轴心的第一螺母且两者形成丝杆螺母传动,所述第一螺母固定在第一滑动架上,所述第一滑动架滑动安装在所述第一连接杆上,所述第一滑动架通过第一压力传感器与第一连接块固定,所述第一连接块竖直向下贯穿所述支撑框架的顶部,且第一连接块的下端固定有所述第一压块,所述第一压块上设有第一延伸部,所述第一延伸部上设有与所述安装槽对应且用于匹配压紧产品的压槽,所述第一压块上还固定有多根竖直向上伸出的第一导杆,所述第一导杆滑动安装在所述支撑框架的顶部,所述第一压块中第一延伸部所在的侧面上固定有多根竖直向下伸出的定位插针,所述测试座上设有与所述定位插针一一对应的让位孔。

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