[发明专利]一种图像处理方法、装置及电子设备在审
| 申请号: | 202111051724.5 | 申请日: | 2021-09-08 |
| 公开(公告)号: | CN113689422A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
| 发明(设计)人: | 赵颖;孟祥涵;汤嘉枫 | 申请(专利权)人: | 理光软件研究所(北京)有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/55;G06T7/70;G06T7/80;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝;何健 |
| 地址: | 100044 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像 处理 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:
获取双目相机采集的左图像和右图像;
对所述左图像和所述右图像进行物体检测,得到所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果,所述物体检测结果包括物体检测框的位置和类别;
将所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果进行匹配,得到匹配结果,所述匹配结果包括物体检测框对;
根据所述匹配结果自适应确定深度信息计算模型;
根据所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果以及所述深度信息计算模型,确定物体深度信息。
2.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述将所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果进行匹配,得到匹配结果包括:
基于预设匹配算法,将所述左图像的物体检测框的位置和类别与所述右图像的物体检测框的位置和类别进行匹配;
将匹配成功的左图像的物体检测框与右图像的物体检测框构成所述物体检测框对。
3.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述深度信息计算模型包括第一深度信息计算模型和第二深度信息计算模型,所述物体检测框对包括左物体检测框与右物体检测框,所述根据所述匹配结果自适应确定深度信息计算模型包括:
确定所述左物体检测框与所述右物体检测框是否水平对齐,且所述左物体检测框与所述右物体检测框的视差值是否大于预设视差值阈值;
若是,则确定所述深度信息计算模型为第二深度信息计算模型;
否则,则确定所述深度信息计算模型为第一深度信息计算模型。
4.根据权利要求3所述方法,其特征在于,所述确定所述左物体检测框与右物体检测框是否水平对齐,且所述左物体检测框与所述右物体检测框的视差值是否大于预设视差值阈值包括:
提取所述左物体检测框和所述右物体检测框的位置坐标;
根据所述左物体检测框和所述右物体检测框的位置坐标中的纵坐标,确定所述左物体检测框与所述右物体检测框是否水平对齐;
根据所述左物体检测框和所述右物体检测框的位置坐标中的横坐标,确定所述左物体检测框与所述右物体检测框的视差值是否大于预设视差值阈值。
5.根据权利要求3所述方法,其特征在于,在确定所述深度信息计算模型为第一深度信息计算模型的情况下,所述根据所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果以及所述深度信息计算模型,确定物体深度信息包括:
根据所述左物体检测框的位置,分别提取所述左物体检测框在所述左图像上的第一左局部区域以及在所述右图像上对应的第一右局部区域;
根据所述右物体检测框的位置,分别提取所述右物体检测框在所述左图像上对应的第二左局部区域以及在所述右图像上的第二右局部区域;
根据所述第一左局部区域和所述第一右局部区域生成第一局部深度图,以及根据所述第二左局部区域和所述第二右局部区域生成第二局部深度图;
将所述第一局部深度图与所述第二局部深度图进行融合,得到所述物体深度信息。
6.根据权利要求3所述方法,其特征在于,在确定所述深度信息计算模型为第二深度信息计算模型的情况下,所述根据所述左图像的物体检测结果和所述右图像的物体检测结果以及所述深度信息计算模型,确定物体深度信息包括:
提取所述物体检测框对的角点位置坐标;
根据所述物体检测框对的角点位置坐标,确定所述物体深度信息。
7.根据权利要求6所述方法,其特征在于,所述根据所述物体检测框对的角点位置坐标,确定所述物体深度信息包括:
根据所述物体检测框对的角点位置坐标,确定所述物体检测框对的中心点位置坐标,所述物体检测框对的中心点位置坐标包括左物体检测框的中心点位置坐标和右物体检测框的中心点位置坐标;
确定所述左物体检测框的中心点位置坐标与所述右物体检测框的中心点位置坐标的差值,作为所述左物体检测框与所述右物体检测框的视差值;
根据所述左物体检测框与所述右物体检测框的视差值,以及所述双目相机的内参,确定所述物体深度信息。
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