[发明专利]一种分子检测方法

权利要求书

1.一种分子检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤A1、获取芯片的特定频率段或特定频率点；

步骤A2、在芯片上加入样品，基于特定频率段或特定频率点对芯片进行加速；

步骤A3、在加速时进行测量得到电信号值；

步骤A4、计算电信号值的变化率，基于变化率确定样品中目标物含量或者定性判断。

2.根据权利要求1所述的分子检测方法，其特征在于：所述变化率包括斜率、二次项或一次项系数；电信号值包括阻抗、电容值或电阻值。

3.根据权利要求2所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤A2中，在特定电压下，从特定频率段的高频点为起点向低频点或者从特定频率段的低频点为起点向高频点，进行加速操作；

步骤A3中，在加速时进行频率扫描，获得电容值随时间变化的曲线A；

步骤A4中，计算曲线A的斜率，基于斜率确定样品中目标物含量或者定性判断。

4.根据权利要求3所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤A2中，特定电压为0.01-30V_p-p。

5.根据权利要求3所述的分子检测方法，其特征在于：所述A3中，频率扫描的持续时间为5-240s。

6.根据权利要求1所述的分子检测方法，其特征在于：还包括步骤A0，获取特征响应频段F1和特征响应频段F2；判断特征响应频段F1与特征响应频段F2是否有重合；若有重合，确定重合段或重合点；基于重合段或重合点选择特定频率段或特定频率点，并转跳到步骤A1。

7.根据权利要求6所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤A0中，若没有重合，转跳到步骤B1；

步骤B1，加入样品，基于第一预设频率做频率扫描，得到电信号的曲线B；

步骤B2，基于第二预设频率对芯片进行加速操作；

步骤B3，再次进行频率扫描，获得电信号的曲线C；

步骤B4，计算两次频率扫描获得的曲线B与曲线C的积分面积差，基于积分面积差确定样品中目标物含量或者定性判断。

8.根据权利要求7所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤B1中，频率扫描时，第一预设频率为1MHz-100Hz，电压为1mV_p-p-1V_p-p。

9.根据权利要求7所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤B2中，第二预设频率的范围为1MHz-1kHz。

10.根据权利要求7所述的分子检测方法，其特征在于：所述步骤B2中，加速操作时还随时间进行测量，判断步骤B2的测量结果与步骤B4的测量结果是否有相关性，若有相关性，基于步骤B4的测量对步骤B2的测量结果进行标定，标定后，通过步骤B2的测量方式确定样品中目标物含量或者定性判断。