[发明专利]识别方法、装置、电子设备及介质在审

专利信息
申请号: 202110970875.4 申请日: 2021-08-23
公开(公告)号: CN113822296A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 张梦茹;谢津 申请(专利权)人: 北京迈格威科技有限公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 王婷婷
地址: 100086 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 识别 方法 装置 电子设备 介质
【权利要求书】:

1.一种识别方法,其特征在于,包括:

通过识别模型对待识别图像进行处理,得到所述待识别图像对应的初始特征向量;

使用特征变换函数对所述初始特征向量进行特征变换,得到所述待识别图像对应的结果特征向量,其中,所述特征变换函数是基于识别错误的测试样本对对应的特征向量对和错误类型确定的;

根据所述结果特征向量对所述待识别图像进行识别。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述特征变换函数是采用以下方法确定的:

获取所述识别模型识别错误的测试样本对对应的特征向量对和所述特征向量对的错误类型,所述测试样本对包括被错误识别为同一对象的两个图像,和/或,被错误识别为不同对象的两个图像;

根据所述特征向量对的错误类型和所述特征向量对,确定特征变换函数,所述特征变换函数用于对目标图像的特征向量进行变换,所述目标图像为与所述测试样本对中的一个图像之间的距离小于第一距离阈值的图像。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述特征向量对的错误类型和所述特征向量对,确定特征变换函数,包括:

将识别模型输出的特征向量作为特征变换函数的变量;

将所述特征向量对中一个特征向量作为第一特征向量,将所述特征向量对中另一个特征向量作为第二特征向量;

若所述变量的值与所述第一特征向量的距离小于所述第一距离阈值,则获取与所述错误类型对应的特征更新强度,并确定所述第二特征向量与所述变量的值的差向量;

根据所述特征更新强度和所述差向量,确定特征变换量;

基于所述特征变换量,确定所述变量的特征变换函数,保证所述变量在特征变换前后的模长保持不变。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述特征变换函数表示如下:

其中,f表示特征变换函数的变量,Tb,q(f)表示关于变量f的特征变换函数,q表示第一特征向量,b表示第二特征向量,D(r)表示衰减函数,r是变量f与第一特征向量q的距离,λ表示特征更新强度,在错误类型为b、q被错误识别为相同对象时λ为负数,在错误类型为b、q被错误识别为不同对象时λ为正数,R为第一距离阈值,renorm表示变量在特征变换前后的模长保持不变。

5.根据权利要求2-4任一项所述的方法,其特征在于,所述获取所述识别模型识别错误的测试样本对对应的特征向量对和所述特征向量对的错误类型,包括:

在到达更新周期时,获取在所述更新周期内所述识别模型识别错误的至少一个测试样本对对应的特征向量对和所述特征向量对的错误类型。

6.根据权利要求2-4任一项所述的方法,其特征在于,所述获取所述识别模型识别错误的测试样本对对应的特征向量对和所述特征向量对的错误类型,包括:

在识别错误的测试样本对的数量达到数量阈值时,获取所述识别模型识别错误的多个测试样本对各自对应的特征向量对和所述特征向量对的错误类型。

7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,根据所述特征向量对的错误类型和所述特征向量对,确定特征变换函数,包括:

在获取到多个识别错误的特征向量对时,分别根据每个特征向量对的错误类型和特征向量对,确定与每个特征向量对对应的特征变换函数,得到多个特征变换函数;

使用特征变换函数对所述初始特征向量进行特征变换,得到所述待识别图像对应的结果特征向量,包括:

依次使用所述多个特征变换函数对所述初始特征向量进行特征变换,得到所述待识别图像对应的结果特征向量。

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法,其特征在于,根据所述结果特征向量对所述待识别图像进行识别,包括:

确定所述结果特征向量与底库特征向量的距离,所述底库特征向量是底库图像对应的特征向量;

将所述距离小于或等于第二距离阈值的底库图像确定为与所述待识别图像匹配的底库图像。

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