[发明专利]零点校准方法、设备、装置、电子设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种矢量传感器的零点校准方法，其特征在于，所述零点校准方法包括：

获取矢量传感器两次测量参考矢量时的参考数据；

根据所述参考数据获取所述矢量传感器的零点偏置M₀；

获取所述矢量传感器测量任意矢量的原始数据R_k；及

根据所述零点偏置M₀及所述原始数据R_k获取有效数据V_k。

2.根据权利要求1所述的零点校准方法，其特征在于，在所述矢量传感器两次测量参考矢量时，所述矢量传感器的姿态不同。

3.根据权利要求1所述的零点校准方法，其特征在于，所述参考数据包括已知的参考矢量值Me、所述矢量传感器第一次测量时的姿态到第二次测量时的姿态的角位移矢量θ、所述矢量传感器第一次测量参考矢量时获取的第一测量数据M₁及所述矢量传感器第二次测量参考矢量时获取的第二测量数据M₂，所述根据所述参考数据获取所述矢量传感器的零点偏置M₀，包括：

根据所述参考矢量值Me、所述角位移矢量θ、所述第一测量数据M₁及所述第二测量数据M₂获取所述零点偏置M₀。

4.根据权利要求1所述的零点校准方法，其特征在于，所述参考数据包括多组，所述根据所述参考数据获取传感器的零点偏置M₀，包括：

根据多组所述参考数据获取多个参考偏置；及

根据多个所述参考偏置获取所述零点偏置M₀。

5.一种零点校准设备，其特征在于，所述零点校准设备包括一个或多个处理器、存储器；及一个或多个程序，其中，一个或多个所述程序被存储在所述存储器中，并且被一个或多个所述处理器执行，所述处理器用于：

获取矢量传感器两次测量参考矢量时的参考数据；

根据所述参考数据获取所述矢量传感器的零点偏置M₀；

获取所述矢量传感器测量任意矢量的原始数据R_k；及

根据所述零点偏置M₀及所述原始数据R_k获取有效数据V_k。

6.根据权利要求5所述的零点校准设备，其特征在于，所述参考数据包括参考矢量值Me、角位移矢量θ、第一测量数据M₁及第二测量数据M₂，所述处理器还用于：

根据所述考矢量值Me、所述角位移矢量θ、所述第一测量数据M₁及所述第二测量数据M₂获取所述零点偏置M₀。

7.根据权利要求5所述的零点校准设备，其特征在于，所述处理器还用于：

根据多组所述参考数据获取多个参考偏置；及

根据多个所述参考偏置获取所述零点偏置M₀。

8.一种零点校准装置，其特征在于，包括：

获取模块，所述获取模块用于获取传感器两次测量参考矢量时的参考数据，及获取传感器两次测量参考矢量时的参考数据；

测量模块，所述测量模块用于根据所述参考数据获取所述矢量传感器的零点偏置M₀；及

计算模块，所述计算模块用于根据所述零点偏置M₀及所述原始数据R_k获取有效数据V_k。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

矢量传感器，所述矢量传感器用于测量矢量；及

权利要求5至7任意一项所述的零点校准设备；和/或

权利要求8所述的零点校准装置。

10.一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现权利要求1至4任意一项所述的零点校准方法。