[发明专利]芯片测试防呆方法及系统

说明书

本申请实施例公开了一种芯片测试防呆方法及系统，应用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，测试机包括多个单板自动化测试设备ATE；该方法包括：控制器分别接收来自多个单板ATE的握手信号，得到多个握手信号，每个握手信号包括第一握手ID；控制器根据第一握手ID判断多个单板ATE是否与控制器握手成功；若多个单板ATE与控制器均握手成功，控制器进行芯片测试。本申请通过在单板ATE与控制器之间增加握手识别，当多个单板ATE与控制器均握手成功时，控制器才作为信号流通桥中转单板ATE和分类机发送的信号，从而实现对芯片测试过程中多接口的接线方式进行防呆，避免因接线错误造成的损失。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试防呆方法及系统。

背景技术

芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(integratedcircuit)，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分。由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，使制造完成的芯片不能达到标准要求，随时可能因为各种原因而出现故障。因此，为了确保芯片质量，通常会对芯片进行测试(包括电学参数测量和功能测试等多个测试项目)，以便将良品和不良品分开。

目前一般是采用相关的自动测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）设备，开发相对应的测试程序进行测试。其中一个单板ATE有多个BIN信号接口，每个接口常见的接线方式包括 SOT，EOT，BIN1，BIN2，POWER，GND等。但是当前接线无论是在软件方面还是硬件方面均难以对多BIN信号接口的接线方式进行防呆处理，因此当操作人员在接线过程中存在接线错误时，会给生产造成重大损失。

发明内容

本申请实施例提供了一种芯片测试防呆方法及系统，通过在单板ATE与控制器之间增加握手识别，能够实现对芯片测试过程中多接口的接线方式进行防呆。

第一方面，本申请实施例提供一种芯片测试防呆方法，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述方法包括：

所述控制器分别接收来自所述多个单板ATE的握手信号，得到多个握手信号，每个握手信号包括第一握手ID，所述第一握手ID用于标识所述单板ATE；

所述控制器根据所述第一握手ID判断所述多个单板ATE是否与所述控制器握手成功；

若所述多个单板ATE与所述控制器均握手成功，所述控制器进行芯片测试。

第二方面，本申请实施例提供的一种芯片测试防呆方法，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述方法包括：

所述多个单板ATE中每个单板ATE通过第一BIN信号接口向所述控制器发送握手信号，所述握手信号包括握手ID，所述握手ID用于标识所述单板ATE。

第三方面，本申请实施例提供的一种芯片测试防呆系统，所述芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，所述测试机包括多个单板自动化测试设备ATE，所述控制器用于执行第一方面所述的方法的步骤，所述多个单板ATE于执行上述第二方面所述的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器和通信接口，所述存储器存储有一个或多个程序，并且所述一个或多个程序由所述处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行上述第一方面或第二方面所述的方法中的步骤的指令。

第五方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行上述第一方面或第二方面所述的方法中所描述的部分或全部步骤。