[发明专利]一种量子纠缠源保真度测量系统及方法

权利要求书

1.一种量子纠缠源保真度测量系统，其特征在于，所述系统包括：量子态测量基矢制备单元、探测单元、符合计数器、数据存储与处理单元；

所述量子态测量基矢制备单元的数量为2组、所述探测单元的数量为2组，1组所述量子态测量基矢制备单元的输出端连接于1组所述探测单元的输入端，所述2组探测单元的输出端连接于所述符合计数器的输入端；

所述符合计数器的输出端连接于所述数据存储与处理单元的输入端。

2.根据权利要求1所述的量子纠缠源保真度测量系统，其特征在于，所述量子态测量基矢制备单元包括第一分束器、第二分束器、相位调制器、可调光延时器、可调光衰减器，所述第一分束器与所述第二分束器之间设置有两条光路，所述两条光路光程相等，其中，所述相位调制器设置于一条光路中，所述可调光延时器与所述可调光衰减器串联于另一条光路中。

3.根据权利要求1所述的量子纠缠源保真度测量系统，其特征在于，1组所述探测单元包括1个单光子探测器，1组所述量子态测量基矢制备单元包括2个输出端并且2个输出端分别连接于两路光程不同的输出光路，所述两路光程不同的输出光路合并为一路后连接于1个所述单光子探测器的输入端，所述符合计数器为2通道符合计数器。

4.根据权利要求1所述的量子纠缠源保真度测量系统，其特征在于，1组所述探测单元包括2个单光子探测器，1组所述量子态测量基矢制备单元包括2个输出端并且每个输出端连接于1个所述单光子探测器，1组所述量子态测量基矢制备单元连接的2个所述单光子探测器的2个输出端分别连接于所述符合计数器的输入端，所述符合计数器为4通道符合计数器。

5.根据权利要求1所述的量子纠缠源可见度测量系统，其特征在于，所述数据存储与处理单元为FPGA、ARM、单片机或CPU中的一种。

6.一种量子纠缠源保真度测量方法，其特征在于，基于量子纠缠源保真度测量系统实现，所述方法包括：

制备测量基矢量子态，通过量子态测量基矢制备单元制备不同测量基矢下的量子态，当不调节相位时得到ZZ基下的量子态，当调节π/2相位时得到YY基下的量子态，当调节π相位时得到XX基下的量子态；

通过探测单元实现量子态的探测；

通过符合计数器完成探测数据的符合性分析与统计；

通过数据存储与处理单元实时计算、分析并记录待测量子纠缠源的保真度信息。