[发明专利]一种电子元器件测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种电子元器件测试装置，其特征在于，包括：

基座，所述基座的两侧分别设置有旋转槽和活动槽，且所述基座的位于所述旋转槽和所述活动槽之间的部分设置有多个插针孔；

内层板，所述内层板为凸形结构且其凸出的部分可活动地设置于所述活动槽，所述内层板还设置有与所述插针孔相对应的穿孔；

多个插针，各所述插针具有头部和延伸自所述头部的尾部，所述头部由两个接触片构成，两个接触片之间形成有插槽，以供电子元器件插入，所述插针设置于对应的所述插针孔，且所述插针的所述头部位于所述内层板之上，所述尾部穿插于所述基座；以及

锁紧释放件，所述锁紧释放件具有驱动部和延伸自所述驱动部的转动部，所述转动部设置于所述旋转槽且其相对的两个侧面分别为圆弧面和平面，所述驱动部突出于所述基座的侧面，用于驱动所述转动部转动，所述锁紧释放件被设置为能够在所述基座的侧面沿其轴线方向被转动，且所述驱动部在被转动时不碰触到电子元器件；

其中所述电子元器件测试装置具有释放状态和闭合状态，在所述释放状态，所述锁紧释放件的平面贴合于所述内层板的侧面，所述插针的插槽处于打开状态，以供电子元器件的管脚能够插入或拔出，当转动所述锁紧释放件时，所述锁紧释放件的圆弧面接触于所述内层板，利用所述锁紧释放件两侧的厚度差，使得所述内层板于所述活动槽移动，从而使得所述插针的两个接触片相互靠近而锁紧插入所述插槽的所述电子元器件的管脚，以此切换至所述电子元器件测试装置的闭合状态，所述电子元器件测试装置在所述闭合状态对所述电子元器件进行测试；当反向转动所述锁紧释放件时，所述锁紧释放件的平面接触于所述内层板而使得所述内层板恢复至原始位置，以此切换回所述电子元器件测试装置的所述释放状态。

2.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述驱动部设置有驱动槽，以允许所述锁紧释放件在所述基座的侧面被外部辅助工具转动，从而避免所述锁紧释放件的旋转与插入于所述电子元器件测试装置的电子元器件产生干涉。

3.根据权利要求2所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述驱动槽为一字槽、十字槽、六边形槽中的一种。

4.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述驱动部为旋钮件，所述旋钮件的直径小于所述电子元器件测试装置侧面的高度。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述锁紧释放件的圆弧面还设置有凸起，所述凸起设置于所述基座的卡槽，用于限制所述锁紧释放件于所述旋转槽的位置，避免所述锁紧释放件沿所述旋转槽的轴线方向移动。

6.根据权利要求5所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述凸起为半圆形凸起。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述电子元器件测试装置还包括与所述基座相适配的盖板，所述盖板通过多个固定件固定连接于所述基座，且所述内层板和所述锁紧释放件设置于所述盖板和所述基座之间，所述盖板设置有与所述插针孔相适配的多个插孔，以供安装在所述盖板顶部的电子元器件的管脚能够经由所述插孔插入对应的所述插针的所述插槽。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的电子元器件测试装置的测试方法，其特征在于，包括步骤：

将电子元器件的管脚插入所述电子元器件测试装置的对应的插针的插槽；

转动锁紧释放件而使得内层板移动，从而使得所述插针的两个接触片相对靠近而将插入于所述插槽的电子元器件的管脚锁紧；以及

对电子元器件进行测试。

9.根据权利要求8所述的电子元器件测试装置的测试方法，其特征在于，还包括步骤：在对电子元器件测试完毕后，反方向转动所述锁紧释放件，而使得所述内层板恢复至原始位置，从而使得所述插针的所述插槽打开，以便于将电子元器件拔出。

10.根据权利要求8或9所述的电子元器件测试装置的测试方法，其特征在于，还包括所述电子元器件测试装置的组装步骤:

将基座固定在印制电路板上；

将所述内层板放置在所述基座，并形成所述内层板的凸出部分位于所述基座的活动槽的状态；

根据测试点位，将多个所述插针穿插于所述基座和所述内层板，并形成所述插针的头部位于所述内层板之上，尾部穿插于所述基座的状态；

将所述锁紧释放件设置于所述基座的旋转槽，并形成所述锁紧释放件的凸起位于所述基座的卡槽，且所述锁紧释放件的平面贴合于所述内层板的侧面的状态；以及

通过多个固定件将盖板固定于所述基座。